技术编号:6749915
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种和一种具有用于廉价地对快速半导体存储器进行测试的集成测试数据压缩电路的数据存储器,特别是工作在非常高的工作时钟频率的DRAM(动态随机存取存储器)存储器、以及SRAM(静态随机存取存储器)存储器。背景技术 图1示出了依据现有技术的测试结构。要被测试的电路DUT(被测试的器件)通过控制总线、数据总线和地址总线与外部测试单元相连。外部测试单元使用测试数据发生器产生测试数据,将该测试数据通过数据总线中的数据总线线路施加到要被测试的存储器DUT上。地...
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