技术编号:6753423
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路芯片领域;更具体地说,它涉及使用基于处理器的内置自测试(BIST)对在逻辑电路中嵌入有动态随机存取存储器(DRAM)的集成电路芯片进行测试的方法。背景技术 具有诸如门阵列、微处理器、数字信号处理器(DSP)和专用集成电路(ASIC)等逻辑功能的高级集成芯片需要DRAM嵌入实现其功能的逻辑中。BIST开始时是为测试逻辑电路开发的并已扩展成还测试嵌入的DRAM。典型的嵌入式DRAM包含多个存储器单元阵列块。测试嵌入式DRAM需要特殊的测试模式...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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