技术编号：6753628
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路存储器装置及其操作方法，更具体地，涉及用于测试集成电路装置的电路和方法。背景技术 集成电路存储器装置在许多商业以及用户应用中被广泛使用。一种被广泛使用的集成电路存储器装置就是动态随机存取存储器(DRAM)。同步DRAM(SDRAM)装置也被设计为能够与时钟信号的上升沿或下降沿同步地读出以及写入数据。此外，双数据率(DDR)SDRAM装置也被设计为通过响应时钟信号的上升沿及下降沿读出和/或写入数据能够以比传统SDRAM(也被称为单数据率(S...
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