技术编号:6758065
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体装置;且更具体而言,涉及一种半导体存储器装置中之冗余电路。背景技术 一般而言,半导体存储器装置在晶片状态下经历预定测试,以挑出其中具有错误或缺陷的不理想单元、字线、位线等。此外,对于冗余电路而言亦执行相同测试以找出缺陷。如众所周知的,在半导体存储器装置中需要冗余单元阵列之目的在于,若正常单元阵列中之任意单元由于任何原因而不能执行其功能,则冗余单元阵列中之单元可代替正常单元阵列中之所述任意单元来执行正常操作。图1是说明现有技术冗余电路之方...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。