专利名称：半导体存储器装置中的冗余电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种半导体装置；且更具体而言，涉及一种半导体存储器装置中之冗余电路。
背景技术：
一般而言，半导体存储器装置在晶片状态下经历预定测试，以挑出其中具有错误或缺陷的不理想单元、字线、位线等。此外，对于冗余电路而言亦执行相同测试以找出缺陷。如众所周知的，在半导体存储器装置中需要冗余单元阵列之目的在于，若正常单元阵列中之任意单元由于任何原因而不能执行其功能，则冗余单元阵列中之单元可代替正常单元阵列中之所述任意单元来执行正常操作。
图1是说明现有技术冗余电路之方块图，且图2为表示该现有技术冗余电路之操作的时序图。
本文中，熔丝组控制器110被配置有用于储存一组地址信号之熔丝组(fuse set)及用于控制该组地址信号之控制器。
参看图1及图2，为测试以找出预定冗余电路中之缺陷，将冗余测试信号RED TEST施加至熔丝组控制器110以使冗余电路在T2时段之后进入测试模式中。熔丝组控制器110根据所施加之地址信号ADDRESS之预定组合而输出逻辑高电平之冗余使能信号REDEN<0:3>。然后，当将选择控制信号SEL_CTRL施加至冗余选择器120同时将冗余使能信号REDEN<0:3>施加至其时，冗余选择器120输出冗余选择信号RED_SEL<0:3>。本文中，T1时段对应于用以设置冗余电路之操作时间且T1与T2之间的时段对应于冗余电路之正常操作时间。
然而，由于根据现有技术冗余电路而在一个熔丝组中设置一个冗余替换单位(redundant substitution unit)，故存在着以下缺点若该冗余替换单位中存在任何缺陷则不可能利用该熔丝组。同时，尽管由于现今更大地增强了制程技术而使半导体存储器装置变得微小化(micronized)，但熔丝组在该装置中之占据面积仍相对大，使得终究难以实施高度集成的装置，这是根据现有技术之另一问题。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种冗余电路，在该冗余电路中，多个冗余取代单位设置于一个熔丝组中以增强熔丝组之使用效率。
根据本发明的一个方面，在半导体存储器装置中提供一种冗余电路，包含熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能的冗余使能信号；冗余选择器；备用冗余选择器；及备用熔丝控制器，其受控于所述冗余使能信号，用于输出根据内部熔丝选项(option)来选择冗余选择器及备用冗余选择器的至少一个的选择控制信号。
根据本发明的另一个方面，在半导体存储器装置中提供一种冗余电路，包含熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能的冗余使能信号；冗余选择器，其用于输出冗余选择信号；备用冗余选择器，其用于输出备用冗余选择信号；及备用熔丝控制器，其受控于所述冗余使能信号，用于输出选择控制信号，该选择控制信号在正常模式期间根据内部熔丝选项或在测试模式期间根据对应于所述冗余选择信号之预定地址信号来选择冗余选择器及备用冗余选择器的至少一个。
根据本发明的又一个方面，在半导体存储器装置中提供一种冗余电路，包含熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能之冗余使能信号；备用熔丝单位，其用于输出对应于内部备用熔丝选项之预定逻辑电平的多个熔离信号(fuse-out signal)；冗余选择器，其受控于施加自外部的选择控制信号，用于将冗余使能信号输出为正常选择控制信号；及复用器，其用于根据所述多个熔离信号来使能冗余选择信号或备用冗余选择信号。
参考结合附图给出的以下优选实施例描述，本发明之以上与其它目的与特征将变得显而易见，其中图1是说明现有技术冗余电路之方块图；图2为表示现有技术冗余电路之操作的时序图；图3是说明根据本发明第一优选实施例之半导体存储器装置之冗余电路的方块图；图4是说明根据本发明之备用熔丝控制器之配置的方块图；图5是说明根据本发明之冗余电路之备用熔丝单位的电路图；图6是说明根据本发明之选择控制器之详细配置的方块图；图7是说明根据本发明之选择控制器之正常选择器的电路图；图8是说明根据本发明之选择控制器之测试模式选择器的电路图；图9是说明根据本发明之选择控制器之信号耦合器的电路图；图10为当连接备用熔丝单位时根据本发明之冗余电路的时序图；图11为当断开备用熔丝时根据本发明之冗余电路的时序图；图12是说明根据本发明第二优选实施例之冗余电路的方块图；并且图13是说明根据本发明第二优选实施例之复用器之详细配置的电路图。
具体实施例方式
现将参照其中示出本发明之示例性实施例的附图来更全面地描述本发明。
图3是说明根据本发明第一优选实施例之冗余电路的方块图。
参看图3，所发明之冗余电路包含熔丝组控制器310、备用熔丝控制器320、冗余选择器330及备用冗余选择器340。
本发明之熔丝组控制器310具有与现有技术冗余电路相同之构造。熔丝组控制器310根据所施加之地址信号ADDRESS之预定组合来输出逻辑高电平之冗余使能信号REDEN<0:3>。
备用熔丝控制器320在正常模式中根据熔丝选项来使能冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>或备用冗余选择控制信号SPARERED_SELECT。此外，在测试模式中，备用熔丝控制器320可根据对应于在测试模式被使能之冗余选择信号RED_SEL<0:3>的预定命令信号，例如预定地址信号ADDRESS<0:3>来使能冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>或备用冗余选择控制信号SPARE RED_SELECT。
冗余选择器330对冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>及选择控制信号SEL_CTRL执行逻辑运算，以输出用于选择对应于它的冗余地址的冗余选择信号RED_SEL<0:3>。
备用冗余选择器340对备用冗余选择控制信号SPARERED_SELECT及选择控制信号SEL_CTRL执行逻辑运算以输出用于选择对应于它的备用冗余地址的备用冗余选择信号SPARE REDUNDANTSEL。
图4是说明根据本发明第一实施例之备用熔丝控制器320之配置的方块图。
参看图4，备用熔丝控制器320包含备用熔丝单位410及选择控制器420。本文中，备用熔丝单位410借助于熔丝控制信号FUSE_CTRL加以初始化且其可输出熔离信号FUSE_OUT<0:3>，该信号具有对应于备用熔丝单位410之连接或断开之预定逻辑电平。
选择控制器420在正常模式中根据熔离信号FUSE_OUT<0:3>之逻辑电平来使能冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>或备用冗余选择控制信号SPARE RED_SELECT。此外，选择控制器420可根据对应于在测试模式被使能之冗余选择信号RED_SEL<0:3>的预定命令信号，例如预定地址信号ADDRESS<0:3>来使能冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>或备用冗余选择控制信号SPARE RED_SELECT。
图5是说明根据本发明第一实施例之冗余电路之备用熔丝单位410的电路图。
参看图5，备用熔丝单位410包含第一备用熔丝输出单位510、第二备用熔丝输出单位520、解码器使能信号产生器530及解码器540。备用熔丝单位410输出熔离信号FUSE_OUT<0:3>，其具有对应于第一熔丝FUSE1及第二熔丝FUSE2之连接或断开状态之预定逻辑电平。
更具体而言，第一备用熔丝输出单位510被提供有第一熔丝511，其设置在电源电压VDD与第一公用节点COM1之间；第一NMOS晶体管512，其受控于熔丝控制信号FUSE_CTRL，其端部(end)连接至第一公用节点COM1和地电压VSS；第一反相器513，用于使第一公用节点COM1之逻辑电平反相；及第二NMOS晶体管514，其受控于第一反相器513之输出，其端部连接至第一公用节点COM1和地电压VSS。当在断开第一熔丝511之条件下施加逻辑高电平之熔丝控制信号FUSE_CTRL时，第一公用节点COM1之逻辑电平变低。相反，当在连接第一熔丝511之条件下施加逻辑高电平的熔丝控制信号FUSE_CTRL时，第一公用节点COM1之逻辑电平再次变高。
第二备用熔丝输出单位520被提供有第二熔丝521，其设置在电源电压VDD与第二公用节点COM2之间；第三NMOS晶体管522，其受控于熔丝控制信号FUSE_CTRL，其端部连接至第二公用节点COM2和地电压VSS；第二反相器523，用于使第二公用节点COM2之逻辑电平反相；及第四NMOS晶体管524，其受控于第二反相器523之输出，其端部连接至第二公用节点COM2和地电压VSS。
解码器使能信号产生器530具有与第一备用熔丝输出单位510相同的构造，因此本文中将省略对其构造的进一步描述。在不使用备用熔丝单位之状况下，需要解码器使能信号产生器530来切断解码器540之输出。
解码器540在受到输出自解码器使能信号产生器530之解码器使能信号DECODER_ENABLE的控制之后被使能。其后，解码器540通过对第一及第二备用熔丝输出单位510及520之输出信号进行解码来输出第一至第四熔离信号FUSE_OUT<0:3>，所述输出信号对应于第一及第二备用熔丝511及512之连接状态。
同时，尽管未在附图中示出，根据本发明的另一个实施例，第一及第二备用熔丝输出单位510及520及解码器使能信号产生器530中的每个可被提供有互连于地电压VSS与公用节点之间的熔丝，互连于公用节点与电源电压VDD之间的受控于熔丝控制信号FUSE_CTRL之NMOS晶体管，用于使公用节点之逻辑电平反相之反相器，及互连于公用节点与电源电压VDD之间的受控于反相器输出之另一个NMOS晶体管。
图6是说明根据本发明第一实施例之选择控制器420之详细配置的方块图。
尽管选择控制器420不限于本说明书之范畴，但是其可被配置有正常选择器610。
在此状况下，响应于在冗余测试信号RED_TEST处于逻辑低电平之正常模式期间所施加的冗余使能信号REDEN<0:3>，正常选择器610根据熔离信号FUSE_OUT<0:3>之逻辑电平来使能正常选择控制信号NS<0:3>或备用选择控制信号SS。本文中，有可能分别利用正常选择控制信号NS<0:3>及备用选择控制信号SS来作为冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>及备用冗余选择控制信号SPARE RED_SELECT。
可替换地，尽管本发明不限于本说明书之范畴，如图6中所述，选择控制器420可被配置有正常选择器610、测试模式选择器620及信号耦合器630。
正常选择器610在冗余测试信号RED_TEST处于逻辑低电平之正常模式中使能正常选择控制信号NS<0:3>或备用选择控制信号SS。本文中，根据熔离信号FUSE_OUT<0:3>之逻辑电平来确定在第一至第四冗余选择信号RED_SEL<0:3>中，哪个被替换成备用冗余选择信号SPARERED_SELECT。响应于所施加之冗余使能信号REDEN<0:3>，可使能第一至第四冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>或备用冗余选择信号SPARE RED_SELECT。
同时，在冗余测试信号RED_TEST处于逻辑高电平之测试模式中，正常选择控制信号NS<0:3>及备用选择控制信号SS变成处于逻辑低电平以使正常选择器610不工作。
测试模式选择器620使能在冗余测试信号RED_TEST处于逻辑高电平之测试模式中被使能之测试模式选择控制信号TNS<0:3>或测试模式备用选择控制信号TSS。
信号耦合器630对正常选择控制信号NS<0:3>及测试模式选择控制信号TNS<0:3>执行逻辑OR运算且对备用选择控制信号SS及测试模式备用选择控制信号TSS执行逻辑OR运算。
图7是说明根据本发明实施例之选择控制器420之正常选择器610的电路图。
参看图7，正常选择器610被提供有第一至第九反相器711至719及第一至第九NAND门721至729。本文中，第一反相器711用于使第一熔离信号FUSE_OUT<0>反相且第二反相器712用于使第二熔离信号FUSE_OUT<1>反相。同样，第三及第四反相器713及714分别使第三熔离信号FUSE_OUT<2>及第四熔离信号FUSE_OUT<3>反相。第五反相器715使冗余测试信号RED_TEST反相。
同时，第一NAND门721对第一反相器711之输出、第一冗余使能信号REDEN<0>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。第二NAND门722对第二反相器712之输出、第二冗余使能信号REDEN<1>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。以相同之方式，第三NAND门723对第三反相器713之输出、第三冗余使能信号REDEN<2>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。第四NAND门724对第四反相器714之输出、第四冗余使能信号REDEN<3>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。
第五NAND门725对第一熔离信号FUSE_OUT<0>、第一冗余使能信号REDEN<0>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。同样，第六NAND门726对第二熔离信号FUSE_OUT<1>、第二冗余使能信号REDEN<1>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。第七NAND门727对第三熔离信号FUSE_OUT<2>、第三冗余使能信号REDEN<2>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。第八NAND门728对第四熔离信号FUSE_OUT<3>、第四冗余使能信号REDEN<3>及第五反相器715之输出执行逻辑NAND运算。
本文中，第九NAND门729起着对第五至第八NAND门725、726、727及728执行逻辑NAND运算之作用。
本文中，第六至第九反相器716、717、718及719用于使仅第一至第四NAND门721、722、723及724之输出反相。因此，对本领域技术人员显而易见的是，第一NAND门721及第六反相器716可由一个AND门来替换。在冗余测试信号RED_TEST处于逻辑高电平之测试模式中，正常选择控制信号NS<0:3>及备用选择控制信号SS处于逻辑低电平，从而使正常选择器610不工作。
图8是说明根据本发明第一实施例之选择控制器420之测试模式选择器620的电路图。
参看图8，测试模式选择器620对地址信号ADDRESS<0:3>、地址信号ADDRESS<4>及冗余测试信号RED_TEST执行逻辑运算，以由此使能冗余选择控制信号RED_SELECT<0:3>或备用冗余选择控制信号SPARE RED_SELECT。
图9是说明根据本发明实施例之选择控制器420之信号耦合器630的电路图。
参看图9，信号耦合器630被提供有第一至第四NOR门，用于对第一至第四正常选择控制信号NS<0:3>及第一至第四测试模式选择控制信号TNS<0:3>执行逻辑NOR运算；及第五NOR门915，用于对备用选择控制信号SS及测试模式备用选择控制信号TSS执行逻辑NOR运算。
本文中，第一至第五反相器921至925用于使仅第一至第五NOR门911至915之输出反相。因此，对本领域技术人员显而易见的是，第一NOR门911及第一反相器921可由一个OR门等来替换。
图10为当连接备用熔丝单位时根据本发明之冗余电路的时序图，其中熔离信号FUSE_OUT<0:3>处于逻辑低电平。
1)第一时段(T1-T2)第一时段是正常操作时段，其中冗余测试信号RED_TEST处于逻辑低电平，且因此第一及第二熔丝511及512如图5中所示连接到其自己的部分。
熔丝组控制器310通过组合施加自外部之地址信号ADDRESS来输出冗余使能信号REDEN<0:3>。参看图10，例如，尽管未示出第一冗余使能信号REDEN<0>变成处于逻辑高电平，但第一至第四冗余使能信号<0:3>可分别被使能，即处于逻辑高电平。
备用熔丝单位410可在第一熔丝511及第二熔丝512连接至其自己的部分的条件下输出逻辑低电平之第一熔离信号FUSE_OUT<0>。此时，选择控制器420之正常选择器610系受控于被使能于逻辑高电平之第一冗余使能信号REDEN<0>。因此，正常选择器610使能第一正常选择控制信号NS<0>以处于逻辑高电平。相反，由于冗余测试信号RED_TEST保持逻辑低电平，故测试模式选择器620维持测试模式选择控制信号TNS<0:3>及测试模式备用选择控制信号TSS以处于逻辑低电平，从而使测试模式选择器620不工作。此外，因为第一正常选择控制信号NS<0>被使能以处于逻辑高电平，故信号耦合器630使能第一冗余选择控制信号RED_SELECT<0>以处于逻辑高电平，且随后，受控于选择控制信号SEL_CTRL之冗余选择器330使能第一冗余选择信号RED_SEL<0>。
2)第二时段(T2-T3)第二时段为冗余测试信号RED_TEST处于逻辑高电平之测试模式时段。
测试模式选择器620使能第一测试模式选择控制信号TNS<0>以处于逻辑高电平，且信号耦合器630使能第一冗余选择控制信号RED_SELECT<0>以处于逻辑高电平。此外，受控于选择控制信号SEL_CTRL之冗余选择器330使能第一冗余选择信号RED_SEL<0>。此时，正常选择器610之输出对信号耦合器630不起作用，这是因为逻辑高电平之冗余测试信号RED_TEST使得输出自正常选择器610之备用选择控制信号SS及正常选择控制信号NS<0:3>处于逻辑低电平。
3)第三时段(T3之后)第三时段为冗余测试信号RED_TEST及第二测试模式选择控制信号TNS<1>处于逻辑高电平之测试模式时段。
第三时段之工作机理与第二时段相同。但是，仅存在一差异，即与第二时段相比，因为第二测试模式选择控制信号TNS<1>而不是第一测试模式选择控制信号TNS<0>被使能以处于逻辑高电平，故第二冗余选择信号RED_SEL<1>而不是第一冗余选择信号RED_SEL<0>被使能以处于逻辑高电平。
图11为当断开备用熔丝时根据本发明第一实施例之冗余电路的时序图，其中第一熔离信号FUSE_OUT<0>处于逻辑高电平。
1)第一时段(TI-T2)第一时段是冗余测试信号RED_TEST处于逻辑低电平且第一熔离信号FUSE_OUT<0>处于逻辑高电平之正常操作时段。
熔丝组控制器310通过组合自外部施加的地址信号ADDRESS来输出冗余使能信号REDEN<0:3>。举例而言，假定第一冗余使能信号REDEN<0>被使能以处于逻辑高电平，则通过被使能于逻辑高电平之第一冗余使能信号REDEN<0>来控制选择控制器420之正常选择器610，以由此使能备用选择控制信号SS以处于逻辑高电平。另一方面，由于冗余测试信号RED_TEST保持逻辑低电平，故测试模式选择器620维持测试模式选择控制信号TNS<0:3>及测试模式备用选择控制信号TSS以处于逻辑低电平，从而使测试模式选择器620不工作。
此外，因为备用选择控制信号SS被使能以处于逻辑高电平，故信号耦合器630使能备用冗余选择控制信号SPARE RED_SELECT以处于逻辑高电平。此外，受控于选择控制信号SEL_CTRL之备用冗余选择器340使能备用冗余选择信号SPARE REDUNTANT SEL。
2)第二时段(T2-T3)及第三时段(T3之后)由于这些时段是冗余测试信号RED_TEST处于逻辑高电平之测试模式时段，故工作机理与图10中之描述相同，因此本文中将省略进一步的说明。
图12是说明根据本发明第二优选实施例之冗余电路的方块图。
参看图12，第二实施例之冗余控制器包含熔丝组控制器1210、备用熔丝单位1220、冗余选择器1230及复用器1240。
具有与图1之相同之构造的熔丝组控制器1210输出由所施加之地址信号ADDRESS之预定组合来使能的冗余使能信号REDEN<0:3>。
具有与图5相同之配置的备用熔丝单位1220输出熔离信号FUSE_OUT<0:3>，其逻辑电平根据第一及第二备用熔丝FUSE1及FUSE2之连接状态来确定。
由选择控制信号SEL_CTRL控制的冗余选择器1230将所使能之冗余使能信号REDEN<0:3>输出为正常选择控制信号NS<0:3>。
复用器1240在第一及第二备用熔丝FUSE1及FUSE2连接到其自己的部分的条件下正常地使能第一至第四冗余选择信号RED_SEL<0:3>。然而，假定存在具有与其它信号不同之逻辑电平的预定信号，即在第一至第四熔离信号FUSE_OUT<0:3>中，则复用器1240使能备用冗余选择信号SPARE REDUNDANT SEL及除对应于具有不同逻辑电平之预定信号的冗余选择信号之外的冗余选择信号。举例而言，若第一熔离信号FUSE_OUT<0>具有不同于第二至第四熔离信号FUSE<1:3>之逻辑电平，则复用器1240使能备用冗余选择信号SPARE REDUNDANT_SEL及除对应于第一熔离信号FUSE_OUT<0>的第一冗余选择信号RED_SEL<0>之外的第二至第四冗余选择信号RED_SEL<1:3>。
图13是说明根据本发明第二实施例的图12之复用器1240之详细配置的电路图。
由于复用器1240中的输入/输出信号之逻辑关系对于本领域技术人员是显而易见的，故在此将简化详细描述。
此外，对本领域技术人员显而易见的是，第一NAND门ND1及第二反相器IV2可由一个AND门来替换，且另外，第五至第九NAND门可由一个AND门来替换。
与现有技术相比，本发明所提供之优点在于有可能重新使用占用率(occupation ratio)愈来愈增加之熔丝，尽管有缺陷之冗余区域应由其他加以代替。因此，对于半导体存储器装置之电路设计而言较为有利。此外，由于可根据熔丝选项来代替有缺陷之冗余区域，亦有可能提高生产率。
本发明包含关于在2005年4月29日申请于韩国专利局的韩国专利申请号2005-36227，其全部内容在此引入作为参考。
尽管已参照特定的优选实施例描述了本发明，对本领域的技术人员将显而易见的是，可在如以下权利要求所限定之发明精神与范围内做出各种改变与修改。
主要符号说明110 熔丝组控制器120 冗余选择器310 熔丝组控制器320 备用熔丝控制器330 冗余选择器340 备用冗余选择器410 熔丝单位420 选择控制器510 第一备用熔丝输出单位511 第一熔丝512 第一NMOS晶体管513 第一反相器514 第二NMOS晶体管520 第二备用熔丝输出单位521 第二熔丝522 第三NMOS晶体管523 第二反相器524 第四NMOS晶体管530 解码器使能信号产生器540 解码器610 正常选择器620 测试模式选择器630 信号耦合器711至719第一至第九反相器721至729第一至第九NAND门911至915第一至第五NOR门
921至925 第一至第五反相器1210 熔丝组控制器1220 备用熔丝单位1230 冗余选择器1240 复用器。
权利要求
1.一种半导体存储器装置中之冗余电路，包括熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能的冗余使能信号；冗余选择器；备用冗余选择器；及备用熔丝控制器，其受控于所述冗余使能信号，用于输出根据内部熔丝选项而选择冗余选择器及备用冗余选择器的至少一个的选择控制信号。
2.如权利要求1之冗余电路，其中所述备用熔丝控制器包含备用熔丝单位，其由从外部施加的熔丝控制信号加以初始化，用于输出熔离信号，该信号具有对应于所述内部熔丝选项之预定逻辑电平；及选择控制器，其用于根据响应于所述冗余使能信号而产生之熔离信号来输出选择控制信号。
3.如权利要求2之冗余电路，其中所述备用熔丝单位包含多个备用熔丝输出单位，其受控于所述熔丝控制信号，用于输出对应于所述内部熔丝选项之预定逻辑电平的信号；解码器，其用于通过对所述多个备用熔丝输出单位之输出信号进行解码来输出多个熔离信号；及解码器使能信号产生器，其受控于所述熔丝控制信号，用于使能所述解码器。
4.如权利要求3之冗余电路，其中所述选择控制器通过使用所述多个熔离信号来输出用于使能冗余选择器之冗余选择信号或用于使能备用冗余选择器之备用冗余选择控制信号。
5.如权利要求4之冗余电路，其中所述冗余选择器对所述冗余选择控制信号及从外部施加的选择控制信号执行逻辑运算以输出冗余选择信号，且所述备用冗余选择器对备用冗余选择控制信号及选择控制信号执行逻辑运算以输出备用冗余选择信号。
6.一种半导体存储器装置中之冗余电路，包括熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能的冗余使能信号；冗余选择器，其用于输出冗余选择信号；备用冗余选择器，其用于输出备用冗余选择信号；及备用熔丝控制器，其受控于所述冗余使能信号，用于输出选择控制信号，该选择控制信号在正常模式期间根据内部熔丝选项或在测试模式期间根据对应于所述冗余选择信号之预定地址信号来选择冗余选择器及备用冗余选择器的至少一个。
7.如权利要求6之冗余电路，其中所述备用熔丝控制器包含备用熔丝单位，其由从外部施加的熔丝控制信号加以初始化，用于输出熔离信号，该信号具有对应于所述内部熔丝选项之预定逻辑电平；及选择控制器，其用于输出选择控制信号，该选择控制信号在正常模式期间根据所述多个熔离信号或在测试模式期间根据对应于所述冗余选择信号之预定地址信号来选择冗余选择器及备用冗余选择器的至少一个。
8.如权利要求7之冗余电路，其中所述备用熔丝单位包含多个备用熔丝输出单位，其受控于所述熔丝控制信号，用于输出对应于所述内部熔丝选项之预定逻辑电平的信号；解码器，其用于通过对所述多个备用熔丝输出单位之输出信号进行解码来输出多个熔离信号；及解码器使能信号，其受控于所述熔丝控制信号，用于使能所述解码器。
9.如权利要求7之冗余电路，其中所述选择控制器包含正常选择器，其用于在所述正常模式期间通过使用所述冗余使能信号及所述多个熔离信号来使能多个正常选择控制信号或一备用选择控制信号；测试模式选择器，其用于根据对应于在所述测试模式期间被使能之冗余选择信号的预定地址信号来使能多个测试模式选择控制信号或一测试模式备用选择控制信号；及信号耦合器，其用于对所述多个正常选择控制信号及所述多个测试模式选择控制信号执行逻辑运算以输出冗余选择控制信号，且用于对所述备用选择控制信号及所述测试模式备用选择控制信号执行逻辑运算以输出备用冗余选择控制信号。
10.如权利要求9之冗余电路，其中所述正常选择器包含第一至第四反相器，其用于使并行输入至其的所述多个熔离信号的每个反相；第五反相器，其用于使所述冗余测试信号反相；第一及第四AND门，其用于对第一至第四反相器之输出、第一至第四冗余使能信号及第五反相器之输出执行逻辑AND运算；及第五AND门，其用于对所述多个熔离信号、第一至第四冗余使能信号及第五反相器之该输出执行逻辑AND运算。
11.如权利要求9之冗余电路，其中所述测试模式选择器被提供有第一至第五AND门，其用于对并行输入至其的所述冗余测试信号及所述预定地址信号执行逻辑AND运算。
12.如权利要求9之冗余电路，其中所述信号耦合器包含第一至第四OR门，其用于对第一至第四正常选择信号及第一至第四测试模式选择控制信号执行逻辑OR运算以输出第一至第四冗余选择控制信号；及第五OR门，其用于对所述备用选择控制信号及所述测试模式选择控制信号执行逻辑OR运算以输出备用冗余选择控制信号。
13.一种半导体存储器装置中之冗余电路，包括熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能的冗余使能信号；备用熔丝单位，其用于输出对应于内部备用熔丝选项之预定逻辑电平的多个熔离信号；冗余选择器，其受控于从外部施加的选择控制信号，用于将所述冗余使能信号输出为正常选择控制信号；及复用器，其用于根据所述多个熔离信号来使能冗余选择信号或备用冗余选择信号。
14.如权利要求13之冗余电路，其中所述备用熔丝单位包含多个备用熔丝输出单位，其受控于所述熔丝控制信号，用于输出对应于所述内部熔丝选项之预定逻辑电平的信号；解码器，其用于通过对所述多个备用熔丝输出单位之输出信号进行解码来输出多个熔离信号；及解码器使能信号，其受控于所述熔丝控制信号，用于使能所述解码器。
15.如权利要求13之冗余电路，其中所述复用器包含多个反相器，其用于使所述多个熔离信号的每个反相；多个AND门，其用于对并行输入至其的所述多个反相器之输出及多个正常选择控制信号执行逻辑AND运算；及另一个AND门，其用于对所述多个熔离信号及所述多个正常选择控制信号执行逻辑AND运算。
全文摘要
本发明提供一种冗余电路，在该冗余电路中，多个冗余替换单位设置于一个熔丝组中以提高熔丝组之使用效率。一半导体存储器装置中之该冗余电路包含熔丝组控制器，其用于输出根据所施加之地址信号而使能之冗余使能信号；冗余选择器；备用冗余选择器；及备用熔丝控制器，其受控于所述冗余使能信号，用于输出根据内部熔丝选项来选择冗余选择器及备用冗余选择器的至少一个的选择控制信号。
文档编号G11C11/417GK1855300SQ20051008510
公开日2006年11月1日 申请日期2005年7月20日 优先权日2005年4月29日
发明者姜相熙 申请人:海力士半导体有限公司