技术编号:6761879
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明关系于一具有自身测试的集成记忆模组、测试系统及测试集成记忆模组的方法。背景技术 为了在制程之后,检测集成记忆模组的功能性,因而进行测试。为达此一目的,该集成记忆模组是被连接至一测试器装置,且启动一测试操作,在过程中检测该集成记忆模组的每一记忆胞元是否达到预定的规格。藉由存写资料与读出资料,测试该记模组,在在相关的记忆胞元中,资料存写与资料储存之间的比较,产生缺陷资料,该缺陷资料可指出该记忆胞元是否有缺陷或是功能正确。完成测试该记忆模组的资料产生,是藉...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。