技术编号:6769214
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及集成电路(IC)设计,更特别地涉及一次可编程 (OTP)式存储器的测试。背景技术在将制造的存储器IC销售给消费者之前,都必须要对所有的存储 单元以及相关的逻辑电路进行测试。由于存储单元相对地占据了比逻 辑电路更大的芯片区域,因此这些存储单元出现缺陷的机率也就更大, 传统的存储器测试一直致力于通过反复向存储单元写入以及从存储单 元读取对存储单元进行测试。对存储单元的测试将不可避免地测试相 关的逻辑电路,因为这些逻辑电路提供地址解码、读和写的功能...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
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