技术编号:6769879
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种准单跳变测试向量生成器,尤其涉及一种基于线性反馈移位 寄存器的集成电路低功耗内建自测试准单跳变测试向量生成器。背景技术随着超大规模集成电路(VLSI)系统复杂度和工艺复杂度的提高,特别是系统芯片 (SoC)的出现,使得集成电路的测试越来越困难。尤其是测试模式下的功耗大大高于工作模 式的功耗问题,已经严重地影响到集成电路工作的可靠性和器件的成品率。因此,低功耗测 试对集成电路系统设计变得越来越重要。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试方...
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