技术编号:6773982
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及存储器设备,特别涉及具有开放位线结构的存储器设备,以及测试存储器设备的方法。背景技术 通常,在具有开放位线结构的存储器设备中,感测放大器被安置在子阵列之间。每一个感测放大器都连接到两条位线上,每一条位线都连接到相邻的子阵列的存储器单元。但是,位于存储器阵列的边缘处的子阵列中的一些位线没有连接到感测放大器(下文中称为“虚位线”)。虚位线连接到虚存储器单元。在具有开放位线结构的存储器设备中,子阵列的位线相互交错(interleave)。子阵列的一...
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