技术编号:6775403
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种,尤其 涉及一种无需预留专门的测试管脚内置非挥发性存储器芯片的测试模式 实现方法。背景技术目前,作为DFT (可测性设计,Drive Fitness Test)设计技术的一 种,在设计内置非挥发性存储器芯片时,通常需预留测试管脚(PIN),以 用来区分电路处于测试状态还是正常工作状态。但是这样导致了电路需要 多一个PAD,使得面积增大,芯片的成本也随之提高。尤其在对芯片面积 要求很高,可使用的PIN的数目非常有限,无法为测试单独设置一个PIN...
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