技术编号:6775922
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于以单片(on chip)来高速执行闪速存储器等的位线泄漏(leak)电流的检测或参考(基准)电压的微调(trimming)的半导体泄漏电流检测器、泄漏电流测定方法、带电压微调功能的半导体泄漏电流检测器、参考电压微调方法及其半导体集成电路。背景技术 近年来,闪速存储器或EEPROM等非易失性存储器构成为使用微细化存储器单元的大容量存储器阵列。另外,伴随着微细化,非易失性存储器必需搭载向程序或读出动作提供正确内部电压的参考电源。作为近年来非易...
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