技术编号：6776437
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及。特别是本发明涉及并行地测试多个 被测试存储器的测试装置以及测试方法。本申请与下述的日本申请有关。 对于承认引用文献的参考的指定国家，通过参考下述的申请中所记载的内 容，引用至本申请，成为本申请的一部分。l.特愿2005-355024号申请日2005年12月8曰 背景技术以提高测试的效率为目的，设计了能够并行地测试多个被测试存储器 的半导体存储器测试装置。具体地，半导体存储器测试装置向多个被测试 存储器的每个写入测试数据，使写入的该测试数据从多个...
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