技术编号：6777273
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开内容涉及存储单元，更具体而言，涉及存储单元内的晶体管失 效的避免。背景技术随着电路技术的发展，晶体管无论在长度、宽度或厚度上均縮小了。 晶体管的縮小可能带来一种或多种对电路的操作造成不利影响的效果。一 种被称为负偏置温度不稳定性(NBTI)的现象就是晶体管失效的一个来源。 只要当栅极处的电压为负(逻辑输入"0")时，在p型金属氧化物半导体 (PM0S)晶体管中就会发生NBTI。 NBTI使得晶体管发生劣化，从而縮短了 其使用寿命。与其它基于晶体管的电...
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