技术编号:6778514
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体存储器件、用于控制半导体存储器件的方法和用于测试半导体存储器件的方法。更具体地说,本发明涉及一种执行内部访问操作和外部访问操作的半导体存储器件。背景技术 最近,具有大存储容量的半导体存储器件(动态随机存取存储器(DRAM))已经被用在电子信息设备中。DRAM具有自刷新能力,以根据内部电路中的计数器操作来刷新存储单元的单元数据。由于具有自刷新能力的DRAM不需要外部刷新操作,所以它在减小功率消耗和简化DRAM周围电路的设计方面具有优势。具有自...
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