技术编号:6779394
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种存储器装置,且特别是涉及一种在封装阶段前测试存储 器装置的字线错误的方法。背景技术存储器装置主要部份通常包括一个存储单元阵列以及驱动和控制该存储单元阵列的相关回路。存储单元可如图1A所示,为一基本1T1C结构(一个晶 体管与一个电容)。如图1A所示,晶体管T的栅极连接至一字线WL,漏极连 接至一位线BL,以及源极连接至一电容。当字线被启动以读取时,晶体管T 将导通,且存储在电容C内的数据会经由存储节点SN及晶体管T传送至位线。在某些情况下,如...
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