技术编号：6779417
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般涉及半导体存储器件，更具体地，但并不作为限制地，涉及 具有命令信号测试特征的半导体存储器件，以及涉及用于在半导体存储器件 中测试所接收到的命令信号的方法。背景技术典型的存储系统包含半导体存储器件(或存储模块)和存储器控制器。 半导体存储器件响应于从存储器控制器施加的命令信号来存储数据或输出别期间，典型的存储系统执行对于半导体存储器件的所有存储器单元的测 试。但是，错误可能发生在命令信号从存储器控制器到半导体存储器件的通 信过程中。例如，存储器控制...
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