技术编号:6779765
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种搭载有存储器宏(memory macro)的半导体存储 装置,特别是涉及在测试模式中可以测量正确的存取时间的半导体存 储装置。背景技术作为搭载有存储器宏的半导体存储装置的存储器宏的测试方法, —般有DA模式(Direct Access mode),利用LSI测试器直接进行存 储器宏单元(Memory Macro Cell)的测试;或BIST模式(Built in Self Test mode),在芯片内装备有测试功能,在进行存储器宏单元的测试...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。