技术编号:6836057
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及去耦电容与用该去耦电容的半导体集成电路。背景技术 近年,伴随数字电路的高速化与高功能化,半导体集成电路的高速化与高集成化取得进展。随着半导体集成电路的高速化与高集成化使芯片的耗电增大,由此出现电源电压下降(IR-DROP)的问题,因电源电压下降而出现晶体管的动作速度降低且电路的动作频率下降,或者随着电源电压的下降引起噪声容限降低且数据的锁存失败(miss latch)等,产生使电路误操作的问题。因此,为提高半导体集成电路的速度与电路动作的稳定性,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。