技术编号:6872942
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般地涉及集成电路测试电路,更具体地说,涉及晶片上专用测量数据预处理器电路。背景技术 半导体电路速度和其他性能因素是目前的处理系统中的关键限制并且随着技术的进步可预见地将变为更关键的限制。随着现有技术被推动到其极限,产出和性能分析以及测试对于半导体芯片电路设计来说变得更加必要。历史上,使用预测基于环境和过程变化的电路性能的程序来模拟电路设计。近来,在芯片或切口(kerf)上结合了测试电路,其提供了与基于环境和过程变化的电路性能有关的有用信息。一种被实...
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