技术编号:6882800
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测试装置,特别涉及一种电子元件的测试装置。背景技术大家都知道,半导体产业技术进步迅速,晶片的制造过程不断提高,已经由0.18微米进步到现在的0.13微米,晶粒是愈做愈小,所以使电子产品愈渐小型化,降低了生产成本,提高了经济效益。同样,电阻、电容和电压器甚至直流电阻阻抗(DCR)等元件也是朝此趋势发展。电子产品在向轻量化、小型化的发展过程中,除了产品本身的品质外,最令人担心的就是小型化的产品在制作、品保过程中,因体积小使操作人员在检验或测试...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。