专利名称：电子元件的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，特别涉及一种电子元件的测试装置。
背景技术：
大家都知道，半导体产业技术进步迅速，晶片的制造过程不断提高，已经由0.18微米进步到现在的0.13微米，晶粒是愈做愈小，所以使电子产品愈渐小型化，降低了生产成本，提高了经济效益。同样，电阻、电容和电压器甚至直流电阻阻抗(DCR)等元件也是朝此趋势发展。
电子产品在向轻量化、小型化的发展过程中，除了产品本身的品质外，最令人担心的就是小型化的产品在制作、品保过程中，因体积小使操作人员在检验或测试时不易测量，还会因人为疏忽而产生误差。例如，以往使用电感电容电阻测试器(LCR-meter)测量参数数据时通常是利用手持探测棒的方式来测量，由此很可能会因手指颤动而造成误差值过大或误判断，并且在测量时还需考验操作人员的稳定度以及耐心，除了造成品质不稳定延误出货外，还会产生操作人员由于赶工加班而心情浮躁、情绪不佳的负面效果。
发明内容
为克服现有技术的缺点，本实用新型的目的是提供一种可精确、迅速地测试电子元件的测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型提供一种电子元件的测试装置，它包括上固定板，其具有一凹槽，可向测试物提供一定位的测试位置；固定座，其设置在固定板的下方，固定座上形成有一测试区，在该测试区上设有由金属丝制成的测具，该测具位于上固定板和固定座之间，并由夹具和测试导轨组成，所述夹具可从两侧将测试物稳固地夹持住；所述测试导轨与测试物的底端相接触，该测试导轨与测试仪器相接，故可对测试物进行测试。
上述夹具可呈一齿状。
上述测试导轨穿过固定座并从其下方露出，露出的部分可以连接不同的测试仪器，以检测出测试物的参数或数据。
上述夹具略高于所述测试导轨并紧邻该测试导轨。
上述金属丝为不锈钢丝。
上述夹具的前端还设有一开口处，其可将测试物导引到测试区内。
本实用新型的电子元件的测试装置具有下列优点1)本实用新型的装置克服了以往利用人工方式测量小型电子元件的不便性，使操作人员不用耗费过多的时间去调整元件位置的准确度，将人员情绪、工作效率保持在最佳状态，能稳定、精确地测试电子元件。
2)本实用新型的装置采用半自动化检测方式，对元件是否具有缺陷进行检查与判定，以取代手动测试方式，能够缩短测试时间，提高生产率。
3)本实用新型的装置具有小型化的优点，可适合空间狭小的场地使用，不受空间的限制，在任何地方都可以方便地操作，甚至可以随身携带。
图1为本实用新型的电子元件测试装置的分解示意图；图2为本实用新型的电子元件测试装置的部分放大示意图；图3为本实用新型的电子元件测试装置的动作示意图；图4为图3中a-a’向剖面图；图5为本实用新型的电子元件测试装置中测具的另一种实施例示意图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型的电子元件的测试装置包括上固定板2和固定座1。
其中，所述上固定板2具有一凹槽21，可向测试物3提供一定位的测试位置。
所述固定座1设置在上固定板2的下方，它们可互相搭配地形成一测试区A，以协助测具的精确定位。固定座上设有由金属丝制成的测具11，该测具位于上固定板2和固定座1之间，并处于测试区A上。测具由夹具12和测试导轨13组成，该金属丝可以是不锈钢丝。所述夹具12可从两侧将测试物3稳固地夹持住。所述测试导轨13位于所述测试区A内并与测试物3的底端相接触。该金属丝所形成的测试导轨13穿过固定座1并从其下方露出，露出的部分可以连接不同的测试仪器，以检测出测试物3的参数或是数据，从而让操作者迅速判断测试物的优劣。
如图2所示，夹具12的金属丝略高于测试导轨13并紧邻该测试导轨13，由此能够将测试物3以夹持方式平稳地固定。
如图3所示，夹具12前端设有一开口处121，可将测试物3迅速、顺利地引入测试区A中。当测试物3进入测试区A后，夹具12会起到一夹持作用，即从两侧将测试物夹持住。如图4所示，由于测试物3本身所具有的形状，使夹具12具有能够下压、扣持的功效，从而将测试物稳定地固定位。
测试物3通过滑行可到达上固定板2的凹槽21内，由此完成了定位动作，然后由外部的测试仪器对测试物3进行测试。可见，本实用新型的电子元件的测试装置在对小型化、轻量化的电子元件进行测试时，能减少人为误差发生的概率，提高测试的稳定性，可大大地缩短测试时间，提高生产率。
如图5所示，为加强金属丝所形成的夹具的扣持力，增加操作者对于测试物导入时的手感，该夹具可被做成齿状122，对于不同的测试物还可以扩增夹具间的宽度。
前述仅为本实用新型的较佳实施例，并不局限本实用新型的实施范围，如轨道的材质和形状等，在不偏离本实用新型所做的任何等效变化或修饰仍属本实用新型的涵盖范围。
权利要求1.一种电子元件的测试装置，其特征在于，它包括上固定板(2)，其具有一凹槽(21)，可向测试物(3)提供一定位的测试位置；固定座(1)，其设置在固定板(2)的下方，固定座上形成有一测试区(A)，在该测试区(A)上设有由金属丝制成的测具(11)，该测具位于上固定板(2)和固定座(1)之间，并由夹具(12)和测试导轨(13)组成，所述夹具(12)可从两侧将测试物(3)稳固地夹持住；所述测试导轨(13)与测试物(3)的底端相接触，该测试导轨与测试仪器相接，故可对测试物(3)进行测试。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述夹具(12)可呈一齿状。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试导轨(13)穿过固定座(1)并从其下方露出，露出的部分可以连接不同的测试仪器，以检测出测试物(3)的参数或数据。
4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述夹具(12)略高于所述测试导轨(13)并紧邻该测试导轨。
5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述金属丝为不锈钢丝。
6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述夹具(12)的前端还设有一开口处(121)，其可将测试物(3)导引到测试区(A)内。
专利摘要本实用新型涉及一种电子元件的测试装置,它包括:上固定板,其具有一凹槽,可向测试物提供一定位的测试位置;固定座,其设置在固定板的下方,固定座上形成有一测试区,在该测试区上设有由金属丝制成的测具,该测具位于上固定板和固定座之间,并由夹具和测试导轨组成,所述夹具可从两侧将测试物稳固地夹持住;所述测试导轨与测试物的底端相接触,该测试导轨与测试仪器相接,故可对测试物进行测试。该装置可迅速、稳定、精确地对电子元件进行测试,生产率高。
文档编号H01L21/66GK2512112SQ01270330
公开日2002年9月18日 申请日期2001年11月8日 优先权日2001年11月8日
发明者王士伟 申请人:致茂电子股份有限公司