技术编号:6941947
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及对次品集成电路芯片施加标记的装置,尤其涉及除去附着在墨水操纵 器的针尖上的墨水污垢并提高标记处理的精度的标记装置。背景技术在半导体装置的制造中的晶片工序结束后,由晶片检查装置测量在半导体晶片上 形成的半导体装置的电气特性。从而分选半导体装置的合格品和次品,并将半导体晶片上 的合格品和次品的位置信息记录到记录装置中。之后,半导体晶片被送入标记装置,在此, 基于由晶片检查装置分选的次品的位置信息,在次品的半导体装置上添加次品识别标记 (以后,称为次品...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。