技术编号:6945240
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试分选机(test handler),更具体地说,涉及一种用于测试分 选机的半导体器件接触装置以及使用其的测试分选机,它们在改变待测试的半导体器件时 便于半导体器件接触装置的更换。背景技术一般地,制造出的存储器或非存储器半导体器件在通过测试分选机进行了各种测 试过程之后进行分发,其中,所述测试分选机用来测试所述制造出的半导体器件。测试分选机是一种使待测试的半导体器件与其它测试装置相接触、并基于测试结 果根据等级对在所述其它测试装置中测试过的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。