半导体装置及其制造方法技术资料下载

技术编号:6951221

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本发明涉及栅极电极和源极电极具有沟槽结构的。 背景技术作为功率元件的功率半导体装置,通过并联连接同一结构的许多单位单元(unit cell),实现高速切换、高电流密度导致的导通时电阻(以下,有时称为“导通电阻”)的降 低、以及高破坏耐受量等的特性。在功率半导体装置的开发中,以导通电阻的降低等作为目 的,功率半导体装置的小型化(miniaturization)不断发展。特别是在低耐压的功率MOSFET (Metal Oxide Semiconductor F...
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