改善浅沟槽隔离侧壁粗糙度的方法技术资料下载

技术编号:6996771

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本发明涉及浅沟槽隔离(Shallow Trench Isolation, STI)的制备方法,尤其涉及 一种。背景技术随着集成电路的发展,现在的CMOS芯片通常在一块普通的硅衬底材料上集成数 以百万计的有源器件,比如NMOS晶体管和PMOS晶体管等,然后通过特定的连接实现各种复 杂的逻辑功能或模拟功能,而除了这些特定的功能外,在电路的设计过程中,通常假设不同 的器件之间一般没有其他的相互影响。因此在集成电路制造中必须能够把器件隔离开来, 这就需要隔离技术。...
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