技术编号:6999802
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种制程变异的监控电路,特别涉及一种在晶粒阶段监控制程变异的可配置监控电路及其方法。背景技术当CMOS制程发展进入纳米等级后,产品良率因制程变异(processvariation)受到的影响变得越来越大,而这也增加了良率提升(yieldramp-up)的难度。目前遇到低良率(low yield)问题只能靠电路设计自动化的工具供货商(Electronic Design AutomationVendor ;EDA Vendor)所提供的缺陷诊断工具(...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。