技术编号:7066009
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种漏端隔离的高压LDMOS的结构,其N型漂移区和N型埋层之间有一层用于隔离漏端和N型埋层的P型区域,该P型区域与P阱相连。本发明还公开了上述结构的漏端隔离的高压LDMOS的制作方法,该方法在形成P阱后,生长栅氧前,通过高能量硼注入,在漂移区下方、N型埋层上方形成一层P型区域。本发明在常规LDMOS的制作工艺基础上,通过双深N阱扩散工艺,在漂移区下方注入一层P型区域,隔离漏端和N型埋层,使漏端对P型衬底形成N/P/N/P结构,从而使得LDMOS...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。