技术编号：7185175
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是关于一种连接器，尤指一种应用于集成电路组件检测 设备领域的连接器。背景技术集成电路组件的封装测试，是于集成电路完成封装作业之后进行检 测作业，其目的是对于集成电路组件的功能进行判断，以确保集成电路 组件于出货时的产品良率能达到一定水平以上。目前对于集成电路组件进行检测作业所采用的检测设备，包括于电 路载板上设置能与集成电路组件电性相连的连接器，该连接器中形成容 置部，并于容置部周围设置数个导电件，使集成电路组件能置入容置部 中定位，并以集成电路...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。