技术编号:7211172
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体制造,特别涉及一种半导体叠层结构及其制 造方法。 背景技术当今半导体器件制造技术飞速发展,半导体器件已经具有深亚微米结构, 集成电路中包含巨大数量的半导体元件。在如此大规模的集成电路中,元件 之间的高可靠、高密度的连接不仅要在单层中进行,而且需要在多层之间进 行横向和纵向的互连。因此,通常提供多个互连层连接结构,多个互连层互相堆叠,层间具有介电层,金属连接孔形成于其中,用于连接半导体元件。 图l为半导体器件及上层互连结构简化示意图。如图1所...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。