技术编号:7211394
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种集成电路测试装置,特别是有关于一种可挠式接 点基板,适用于集成电路测试装置中,用以解决噪声干扰与磨损造成 的失效问题。背景技术集成电路经过设计、制造后,尚须经过测试,才能确保结构与功 能可以正常运作。集成电路测试可以分为晶圆检测与封装后的成品测 试,晶圆检测是在晶圆切割与封装前,先以探针(Probe)测试晶圆的线 路结构是否正常;而成品测试则是分析封装后集成电路的各项功能, 确保各项性质都能符合规格要求。目前的集成电路测试大都使用自动 测试系...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。