单源多漏的mos器件的制作方法技术资料下载

技术编号:7230574

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本发明涉及一种半导体设计领域,特别是涉及一种M0S器件的结构设计。背景技术传统的M0S晶体管的结构请参阅图1 (a),在衬底B上,两个重掺杂区 形成源极S和漏极D,重掺杂的(导电的)多晶硅区作为栅极G, 一层薄二 氧化硅使栅极G和衬底B隔离。如果是丽0S器件,就是在p型衬底上,两 个重掺杂n区形成源极和漏极;如果是PMOS器件,就是在n型衬底上,两 个重掺杂P区形成源极和漏极。这种传统的M0S晶体管的示意图如图1 (b) 所示,栅极G位于中间分隔左右两侧的...
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