技术编号:7235719
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体集成电路,更具体地,涉及识别和个体化半导 体集成电路的方法和设计。背景技术在半导体集成电路的制造中,在晶片级功能测试半导体芯片,然 后在封装芯片以后再次功能测试半导体芯片。这些测试一般被分别称 为"晶片级测试,,和"最终测试"。晶片级测试确保电路功能性,而最终 测试确保封装的芯片如预期那样工作。集成电路识别信息,有时也称为"芯片识别"信息,可包括加工批 号、晶片号和晶片上的位置、和/或芯片序列号。这一信息可用来确定 在正常测试期间,诸如在最...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。