在3d集成处理中转移材料层的方法以及相关结构和装置制造方法技术资料下载

技术编号:7252437

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本发明公开了将半导体材料层从第一施主结构转移至第二结构的方法,该方法包括以下步骤在第一施主结构内形成由其中的植入的离子限定的大致平坦的弱化区。植入的离子的浓度和植入的离子的元素成分的至少一方可以形成为在整个大致平坦的弱化区上横向地变化。第一施主结构可以接合至第二结构,并且第一施主结构沿着大致平坦的弱化区可以断裂,保留所述半导体材料层接合至第二结构。可以通过在转移的半导体材料层上形成有源器件结构来制造半导体器件。利用描述的方法制造半导体结构。专利说明在3D集...
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