技术编号:7259096
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种泄露电流收集结构及具有该结构的辐射检测器。辐射检测器包括半导体材料件。在半导体材料件的表面上,多个连续电极条被构造成具有绝对值顺序增加的电势。场板覆盖一对相邻电极条之间的间隔的至少大部分并通过电绝缘层与所述间隔的大部分隔离。偏压电势联接到所述场板以吸引表面产生电荷载体。专利说明 泄露电流收集结构及具有该结构的辐射检测器[0001]本发明整体涉及半导体装置领域。更具体地,本发明涉及在具有处于不同电势的多个电极的半导体辐射检测器中的表面产生泄漏电流的产生和...
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