技术编号:7758789
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于测量TD-LTE终端性能的自动测试系统和自动测试方法。 背景技术随着TD-LTE技术日益成熟,TD-LTE终端生产量逐渐加大。由于TD-LTE终端生 产时受选择的器件类型、生产过程中的温度变化、器件的不同组装顺序等因素的影响,即使 是基于同样的平台和同样的设计,也可能出现不同性能的TD-LTE终端,因此检测生产出的 TD-LTE终端的性能实为必须。终端测试仪是对TD-LTE终端进行性能测试的设备。现有检测TD-LTE终端的性能 通过手动终...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。