专利名称：Td-lte终端性能自动测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种用于测量TD-LTE终端性能的自动测试系统和自动测试方法。
背景技术：
随着TD-LTE技术日益成熟，TD-LTE终端生产量逐渐加大。由于TD-LTE终端生 产时受选择的器件类型、生产过程中的温度变化、器件的不同组装顺序等因素的影响，即使 是基于同样的平台和同样的设计，也可能出现不同性能的TD-LTE终端，因此检测生产出的 TD-LTE终端的性能实为必须。终端测试仪是对TD-LTE终端进行性能测试的设备。现有检测TD-LTE终端的性能 通过手动终端测试仪实现，这种测试方法远远达不到指定的进度。因此，有必要提供一种改进的用于检测TD-LTE终端性能的系统及方法，提高检测进度。
发明内容
本发明的目的是提供一种TD-LTE终端性能自动测试系统及方法，无需人工操作， 能提高检测的进度。为了实现上述目的，本发明提供了一种TD-LTE终端性能自动测试系统，包括终 端测试仪，适用于与待测TD-LTE终端连接；PC机，与所述终端测试仪连接并配置有项目配 置文件，所述项目配置文件包括多个测量项目信息，每条测量项目信息包括对应的测量项 目，以及测量项目对应的测试频段、频点、带宽、小区功率、测试项目结果的上下线参数，其 中，所述终端测试仪在所述PC机的控制下启动性能测量，根据所述PC机中项目配置文件内 的每个测量项目信息对所述待测TD-LTE终端进行性能测量，将测量结果发送至所述PC机。在本发明的一个实施例中，所述终端测试仪经由其射频输出口并通过射频线与所 述待测TD-LTE终端连接。在本发明的另一实施例中，所述PC机通过USB-GPIB转接线或者直接通过网络与 所述终端测试仪。在本发明的再一实施例中，所述终端测试仪配置的项目配置文件导入至测试程序。在本发明的又一实施例中，所述测量项目包括发射功率、接收灵敏度、最大输入电 平、邻道泄漏比、占用带宽、频谱辐射模板、功率控制、发射调制、开关功率、频率误差、相位 误差、性能指标、信道状体报告。本发明还提供了一种TD-LTE终端性能自动测试方法，包括如下步骤配置项目配 置文件，所述项目配置文件包括多个测量项目信息，每条测量项目信息包括对应的测量项 目，以及测量项目对应的测试频段、频点、带宽、小区功率、测试项目结果的上下线参数；开 机命令至终端测试仪，以使终端测试仪开机以备测试；建立终端测试仪与待测TD-LTE终端 之间的连接；建立终端测试仪与待测TD-LTE终端之间的通话；终端测试仪根据所述项目配置文件内的每个测量项目信息对所述待测TD-LTE终端进行性能测量。在本发明的一个实施例中，所述测量项目包括发射功率、接收灵敏度、最大输入电 平、邻道泄漏比、占用带宽、频谱辐射模板、功率控制、发射调制、开关功率、频率误差、相位 误差、性能指标、信道状体报告。在本发明的另一实施例中，还包括步骤将所述项目配置文件导入测试程序；修 改所述测试程序以修改测量项目或测量项目的环境。在本发明的再一实施例中，所述方法还包括步骤当任一测量项目信息对应的测 量结果不在规定范围时，对该测量项目信息进行重新测量。在本发明的又一实施例中，所述方法还包括步骤当所述项目配置文件内的所有 测量项目信息测量完毕后，对所述项目配置文件内的所有测量项目信息进行重新测量。与现有技术相比，本发明TD-LTE终端性能自动测试系统和方法能成功测量待测 TD-LTE终端的性能，整个性能测量过程无需人为参与，可以节约人力成本，提高终端研发与 生产的进度。另外，本发明TD-LTE终端性能自动测试系统和方法可以设置对某一测量项目进 行重测，因此本系统可以多次测量某个项目。再者，本发明TD-LTE终端性能自动测试系统和方法可以多次测量全部项目，以反 映待测TD-LTE终端200在一段时间内的稳定性和一致性。。通过以下的描述并结合附图，本发明将变得更加清晰，这些附图用于解释本发明 的实施例。
图1为本发明TD-LTE终端性能自动测试系统的组成框图。图2为本发明TD-LTE终端性能自动测试方法的流程图。
具体实施例方式现在参考附图描述本发明的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。参考图1，本发明TD-LTE终端性能自动测试系统100包括终端测试仪120，其射频输出口通过射频线与待测TD-LTE终端200连接；PC机110，通过USB-GPIB转接线或者直接通过网络与终端测试仪120连接，其中，终端测试仪120在PC机110的控制下自动执行测试项目，对待测TD-LTE终 端200进行性能测量，将测量结果发送至PC机110。参考图2，图1所示TD-LTE终端性能自动测试系统100对待测TD-LTE终端200进 行性能测量的步骤如下步骤Sl，将PC机110上配置好的项目配置文件导入PC机110的测试程序，使用自 动测试程序TpItem结构数组存放项目配置文件的所有测量项目信息，其中，项目配置文件 中包括多条测量项目信息，每条测量项目信息包括对应的测量项目，以及测量项目对应的 测试频段、频点、带宽、小区功率、测试项目结果的上下线参数；步骤S2，PC机发送开机命令至终端测试仪120，以使终端测试仪120开机，准备测 量；
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步骤S3，终端测试仪120发送小区功率至待测TD-LTE终端200，待测TD-LTE终端 200收到信号并反馈信号至终端测试仪120，查看终端测试仪120的状态是否为入网状态 (IDLE)，当终端测试仪120为IDLE状态时表示终端测试仪120与待测TD-LTE终端200成 功建立连接； 步骤S4，终端测试仪120发送通话命令至待测TD-LTE终端200，待测TD-LTE终端 200收到通话命令并反馈通话命令至终端测试仪120，以成功建立通话(通话成功建立后， 开始终端性能测量)；步骤S5，PC机将自动测试程序TpItem结构数组的第一条测量项目信息作为当前 测量项目信息；步骤S6，终端测试仪120根据PC机中的当前项目信息调用对应函数，根据该函数 测量当前项目，读取当前项目的测量结果；步骤S7，终端测试仪120判断当前项目的测量结果是否在规定范围(3GPP 36. 521 协议规定了每个测量项目测量结果的范围)内，如果是，继续下一步，如果否，转步骤Sll ；步骤S8，终端测试仪120判断PC机中的自动测试程序TpItem结构数组的所有项 目信息是否遍历完毕，如果是，继续下一步，如果否，转步骤SlO ；步骤S9，项目测量结束，测量项目的完整性为0，终端测试仪120将每个项目的测 量结果发送至PC机110，PC机110显示所有项目的测量结果、以及测量结果的个数，结束；步骤S10，将当前测量项目信息的下一测量项目信息作为当前测量项目信息，转步 骤S6 ；步骤S11，判断是否对当前项目进行重测，如果是，继续下一步，如果否，转步骤 S13 ；步骤S12，判断重测次数是否超过阀值次数，如果是，继续下一步，如果否，转步骤 S6 ；步骤S13，显示当前项目测量不通过，转步骤S8。由上可知，本TD-LTE终端性能自动测试系统100能成功测量待测TD-LTE终端200 的性能，并且使用方便，能提高终端研发与生产的进度。整个性能测量过程无需人为参与， 可以节约人力成本。另外，在步骤Sll中可以设置对某一测量项目进行重测，因此本系统可以多次测 量某个项目。再者，如果终端测试仪120设置了多次测量，那么当Tp I t em结构数组的所有项 目信息遍历完并显示(即步骤S9)之后，自动释放待测TD-LTE终端200与终端测试仪120 之间的连接，再建立第二次连接并进行性能测试，直到测试次数为指定测量次数为止，因此 本系统可以多次测量全部项目，反映待测TD-LTE终端200在一段时间内的稳定性和一致 性。最后，如图3，本系统及方法的PC机110可以通过USB-G PIB或者是网络(LAN 口) 与多个终端测试仪120连接，从而对多个待测TD-LTE终端200进行性能测试。需要说明的是，本系统可以对项目配置文件的每条测量项目信息的内容(如频 段、频点、带宽、小区功率、测试项目及判断结果的上下线，是终端测试仪的基本参数)进行 设置，也可以产生步骤S2中发送至终端测试仪120的开机命令(即测试控制命令)，以启动终端测试仪120对终端的性能测量。另外，在步骤S9中，项目测量结束后，终端测试仪120将每个项目的除测量结果外 的其他测量项目的信息，如测量项目的名称、对应的测量频率、终端发射功率、终端接收功 率、测量值下限、测量结果、测量值上限等发送至PC机110，PC机110显示所有测量项目的 fn息ο按照协议要求，步骤Sl中配置好的项目配置文件中的测量项目包括发射功率、接 收灵敏度、最大输入电平、邻道泄漏比、占用带宽、频谱辐射模板、功率控制、发射调制、开关 功率、频率误差、相位误差、性能指标(需求)、信道状体报告。上述测量项目包括TD-LTE两 种终端(手机和上网卡)的测量指标。由于本系统中配置好的项目配置文件中的测量项目导入测试程序，因此可在测 试程序中修改测量项目，这一方面可根据使用者的不同需求配置相关的测量项目，另一方 面可根据不同的需求改变某个测量项目的环境(比如最大输入电平协议中要求小区功率 为-25dbm测试，可能根据具体需求更改小区功率)。本方法提供频率、小区功率、测量次数 等可配置的测量环境，其中测量下限值与上限值都按照TD-LTE相关测试协议而定。当PC机110通过USB-GPIB转接线、或通过网络与终端测试仪120连接后，本系统 可以选择PC机110与终端测试仪120的通信方式，即选择GPI B通信或者网络通信。具体 地，如图4，当PC机110通过USB-GPIB转接线与终端测试仪120连接后，PC机110获取终 端测试仪120的GPI B地址和线损值，打开VI SA资源，初始化GP IB，根据GPIB地址和线 损值获取GPIB控制句柄以建立PC机110与终端测试仪120之间的通信，然后PC机110创 建测试线程以控制通信的过程，进而通过GPIB通信控制终端测试仪120对待测TD-LTE终 端200进行性能测试的过程；当PC机110通过网络与终端测试仪120连接后，PC机110获 取终端测试仪120的网络地址和线损值，打开网络资源，根据网络地址和线损值获取网络 控制句柄以建立PC机110与终端测试仪120之间的通信，然后PC机110创建测试线程以 控制通信的过程，进而通过网络通信控制终端测试仪120对待测TD-LTE终端200进行性能 测试的过程。以上结合最佳实施例对本发明进行了描述，但本发明并不局限于以上揭示的实施 例，而应当涵盖各种根据本发明的本质进行的修改、等效组合。
权利要求
一种TD LTE终端性能自动测试系统，包括终端测试仪，适用于与待测TD LTE终端连接；以及PC机，与所述终端测试仪连接并配置有项目配置文件，所述项目配置文件包括多个测量项目信息，每条测量项目信息包括对应的测量项目，以及测量项目对应的测试频段、频点、带宽、小区功率、测试项目结果的上下线参数；其中，所述终端测试仪在所述PC机的控制下启动性能测量，根据所述PC机中项目配置文件内的每个测量项目信息对所述待测TD LTE终端进行性能测量，将测量结果发送至所述PC机。
2.如权利要求1所述的TD-LTE终端性能自动测试系统，其特征在于，所述终端测试仪 经由其射频输出口并通过射频线与所述待测TD-LTE终端连接。
3.如权利要求1所述的TD-LTE终端性能自动测试系统，其特征在于，所述PC机通过 USB-GPIB转接线或者直接通过网络与所述终端测试仪。
4.如权利要求1所述的TD-LTE终端性能自动测试系统，其特征在于，所述终端测试仪 配置的项目配置文件导入至测试程序。
5.如权利要求1所述的TD-LTE终端性能自动测试系统，其特征在于，所述测量项目包 括发射功率、接收灵敏度、最大输入电平、邻道泄漏比、占用带宽、频谱辐射模板、功率控制、 发射调制、开关功率、频率误差、相位误差、性能指标、以及信道状体报告。
6.一种TD-LTE终端性能自动测试方法，包括如下步骤配置项目配置文件，所述项目配置文件包括多个测量项目信息，每条测量项目信息包 括对应的测量项目，以及测量项目对应的测试频段、频点、带宽、小区功率、测试项目结果的 上下线参数；发送开机命令至终端测试仪，以使终端测试仪开机以备测试； 建立终端测试仪与待测TD-LTE终端之间的连接； 建立终端测试仪与待测TD-LTE终端之间的通话；终端测试仪根据所述项目配置文件内的每个测量项目信息对所述待测TD-LTE终端进 行性能测量。
7.如权利要求6所述的TD-LTE终端性能自动测试方法，其特征在于，所述测量项目包 括发射功率、接收灵敏度、最大输入电平、邻道泄漏比、占用带宽、频谱辐射模板、功率控制、 发射调制、开关功率、频率误差、相位误差、性能指标、以及信道状体报告。
8.如权利要求6所述的TD-LTE终端性能自动测试方法，其特征在于，还包括步骤 将所述项目配置文件导入测试程序；修改所述测试程序以修改测量项目或测量项目的环境。
9.如权利要求6所述的TD-LTE终端性能自动测试方法，其特征在于，还包括步骤当任一测量项目信息对应的测量结果不在规定范围时，对该测量项目信息进行重新测量。
10.如权利要求6所述的TD-LTE终端性能自动测试方法，其特征在于，还包括步骤 当所述项目配置文件内的所有测量项目信息测量完毕后，对所述项目配置文件内的所有测量项目信息进行重新测量。
全文摘要
本发明公开了一种TD-LTE终端性能自动测试系统，包括终端测试仪和PC机，所述终端测试仪在所述PC机的控制下启动性能测量，根据PC机中项目配置文件内的每个测量项目信息对所述待测TD-LTE终端进行性能测量，将测量结果发送至所述PC机。本系统能成功测量待测TD-LTE终端的性能，整个性能测量过程无需人为参与，人力成本减少，测量进度提高。本系统可以多次测量某个项目或全部项目。本发明同时公开了一种TD-LTE终端性能自动测试方法。
文档编号H04B17/00GK101931477SQ20101027035
公开日2010年12月29日 申请日期2010年9月2日 优先权日2010年9月2日
发明者张家平, 晏建军, 曾志雄, 李婷, 王波 申请人:湖北众友科技实业股份有限公司