技术编号：7954886
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。『技术领域』本发明涉及一种找寻坏点的方法，尤其指对数码产品进行坏点找寻的方法。『背景技术』在目前的数码产品中一般都会使用到其核心元件--CCD或CMOS，而由于CCD或CMOS本身的特性，在其生产制作过程中因为生产工艺、灰尘等因素不可完全克服而产生不能正确曝光的像素点，分亮点和暗点，统称为坏点。坏点是感光能力较正常有差异的点，通常表现为不感光或者永远都输出高感光值的像素点，通常永远输出高感光值的情况较多，而不感光的情况比较少，由此导致，在使用数码产品时，坏点都不受系统的控制而感光，而永远输出高感光值的点表现在影像上...
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