技术编号:8255376
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。现有技术中痕量探测仪的进样装置的操作方式通常为将外部试纸经过擦拭以后,再将试纸插入进样装置中。整个过程的采进样方式分离。但是这种做法对于进样装置适应试纸的厚度、宽度以及插纸操作等都有很高的要求,如果进样装置插纸口处有设计偏差或者装配角度有偏差时,非常容易出现卡纸、插纸难等现象。且,如果试纸损坏且残留在进样装置中则不易取出,会影响样品的检测效果,为后期维护增加难度。另外,由于现有技术中对进样装置的加工工艺的精度要求高,因此加工困难,并会导致制作费用高的问题。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。