一种旋转式进样装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及探测技术领域，尤其涉及一种用于痕量探测仪的旋转式进样装置。
【背景技术】
[0002]现有技术中痕量探测仪的进样装置的操作方式通常为将外部试纸经过擦拭以后，再将试纸插入进样装置中。整个过程的采进样方式分离。但是这种做法对于进样装置适应试纸的厚度、宽度以及插纸操作等都有很高的要求，如果进样装置插纸口处有设计偏差或者装配角度有偏差时，非常容易出现卡纸、插纸难等现象。且，如果试纸损坏且残留在进样装置中则不易取出，会影响样品的检测效果，为后期维护增加难度。另外，由于现有技术中对进样装置的加工工艺的精度要求高，因此加工困难，并会导致制作费用高的问题。
【发明内容】
[0003]本发明提供一种用于痕量探测仪的旋转式进样装置，以解决现有技术中对进样装置要求高，制作费用昂贵的技术问题。
[0004]为解决上述技术问题，本发明提供一种用于痕量探测仪的旋转式进样装置，其包括:旋转杆、进样主体和旋转杆支架，其中，所述进样主体位于所述旋转杆支架内，所述旋转杆穿过所述旋转杆支架和所述进样主体，并通过紧固件与所述进样主体固定，所述旋转杆可旋转。
[0005]进一步地，所述旋转杆通过旋转使所述进样主体上的样品被固定在所述旋转杆支架上的加热件加热且挥发。
[0006]进一步地，
[0007]所述紧固件为一个或多个紧固螺钉。
[0008]进一步地，
[0009]所述进样主体的侧面为半曲面。
[0010]进一步地，
[0011]所述进样主体的侧面为多边形。
[0012]进一步地，
[0013]所述样品被直接擦拭至所述进样主体表面。
[0014]进一步地，
[0015]所述进样主体表面覆盖试纸，所述样品被擦拭至所述试纸表面。
[0016]进一步地，
[0017]所述试纸两端分别设置有与所述紧固螺钉的数量和大小相配合的孔，所述试纸围绕所述进样主体的侧面一周且两端通过所述孔被所述紧固螺钉固定。
[0018]进一步地，
[0019]所述加热件为加热片。
[0020]进一步地，
[0021]所述加热件包括过孔。
[0022]进一步地，
[0023]所述样品被加热且挥发后通过所述加热件的过孔进入探测区。
[0024]可见，在本发明提供的用于痕量探测仪的旋转式进样装置中，相对现有技术结构简单，便于操作，对加工工艺的要求不高，后期维护简单，费用成本低。
【附图说明】
[0025]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1是本发明实施例用于痕量探测仪的旋转式进样装置的基本结构示意图；
[0027]图2是本发明实施例的紧固件示意图；
[0028]图3是本发明实施例的旋转杆示意图；
[0029]图4是本发明实施例的进样主体示意图；
[0030]图5是本发明实施例的加热件示意图；
[0031]图6是本发明实施例的旋转杆支架示意图。
【具体实施方式】
[0032]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0033]本发明提供一种用于痕量探测仪的旋转式进样装置，参见图1至图6，包括:
[0034]旋转杆1、进样主体2和旋转杆支架3，其中，所述进样主体2位于所述旋转杆支架3内，所述旋转杆I穿过所述旋转杆支架3和所述进样主体2，并通过紧固件5与所述进样主体2固定，所述旋转杆I可旋转。
[0035]可选地，旋转杆I通过旋转使所述进样主体2上的样品被固定在所述旋转杆支架3上的加热件4加热且挥发。
[0036]可选地，如图2所示，紧固件5可以为一个或多个紧固螺钉，而旋转杆I上也具有数量和大小相配合的螺孔，见图3。
[0037]可选地，进样主体2的侧面可以为半曲面，如图4。当然，进样主体2也可以为其他形状，如侧面为多边形等，只需满足进样主体2在通过加热件4加热时二者配合良好即可。
[0038]其中，进样主体2可以通过多种方式采样，既可以直接作为取样器使得样品直接擦拭至进样主体2的表面，也可以在表面覆盖一层试纸，使得样品被擦拭至试纸表面。
[0039]当进样主体2表面覆盖试纸时，试纸可以围绕进样主体2的整个侧面，并被紧固件5所固定。当紧固件5为紧固螺钉时，试纸两端可以分别设置有与所述紧固螺钉5的数量和大小相配合的孔，所述试纸围绕所述进样主体2的侧面一周且两端通过所述孔被所述紧固螺钉5固定。
[0040]可选地，加热件4可以为加热片，如图5所示，固定在图6所示的旋转杆支架3的一端。
[0041]可选地，加热件4可以包括过孔。
[0042]可选地，当本发明实施例的旋转式进样装置被应用到痕量探测仪时，样品被加热件4加热并挥发后，可以通过加热件4的过孔以及位于痕量探测仪上的加热膜进入探测区。
[0043]在本发明实施例中，进样主体2在曲面上采样后，可以经由紧固件5的固定通过与旋转杆I联动的方式旋转180°，曲面向下，并借助加热件4加热使样品挥发进入探测区进行分离。
[0044]其中，本发明实施例用于痕量探测仪的进样装置与痕量探测仪之间是可分离的，如将此装置用在大型探测仪上，可将本实施例的进样装置单独取下进行采样，如应用在小型便携装置上，则可无需取下采样。
[0045]可见，在本发明实施例提供的用于痕量探测仪的旋转式进样装置中，相对现有技术结构简单，便于操作，对加工工艺的要求不高，后期维护简单，费用成本低。
[0046]最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
【主权项】
1.一种用于痕量探测仪的旋转式进样装置，其特征在于，其包括:旋转杆、进样主体和旋转杆支架，其中，所述进样主体位于所述旋转杆支架内，所述旋转杆穿过所述旋转杆支架和所述进样主体，并通过紧固件与所述进样主体固定，所述旋转杆可旋转。
2.根据权利要求1所述的旋转式进样装置，其特征在于，所述旋转杆通过旋转使所述进样主体上的样品被固定在所述旋转杆支架上的加热件加热且挥发。
3.根据权利要求1所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述紧固件为一个或多个紧固螺钉。
4.根据权利要求1所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述进样主体的侧面为半曲面或多边形。
5.根据权利要求1所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述样品被直接擦拭至所述进样主体表面。
6.根据权利要求2所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述进样主体表面覆盖试纸，所述样品被擦拭至所述试纸表面。
7.根据权利要求6所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述试纸两端分别设置有与所述紧固螺钉的数量和大小相配合的孔，所述试纸围绕所述进样主体的侧面一周且两端通过所述孔被所述紧固螺钉固定。
8.根据权利要求2所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述加热件为加热片。
9.根据权利要求2所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述加热件包括过孔。
10.根据权利要求9所述的旋转式进样装置，其特征在于: 所述样品被加热且挥发后通过所述加热件的过孔进入探测区。
【专利摘要】本发明提供一种用于痕量探测仪的旋转式进样装置，其包括：旋转杆、进样主体和旋转杆支架，其中，所述进样主体位于所述旋转杆支架内，所述旋转杆穿过所述旋转杆支架和所述进样主体，并通过紧固件与所述进样主体固定，所述旋转杆可旋转。在本发明提供的用于痕量探测仪的旋转式进样装置中，相对现有技术结构简单，便于操作，对加工工艺的要求不高，后期维护简单，费用成本低。
【IPC分类】G01N33-00
【公开号】CN104569309
【申请号】CN201410837799
【发明人】彭华, 肖翼, 李元景, 刘建华, 吴汪洋, 周海朝
【申请人】同方威视技术股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月29日