技术编号:8338301
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种电波暗室及使用该电波暗室测试电磁干扰的测试方法。背景技术 手机、电脑等电子产品在开发过程中均需要利用电波暗室进行电磁场辐射抗扰度 试验。常用的电波暗室会分别使用高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直 天线进行测试,需要人工在各类天线之间更换,因此增加了设备、人力、时间,造成测试成本 高,且测试效率低。发明内容 有鉴于此,有必要提供一种测试效率高,测试成本低的电波暗室及使用该电波暗 室测试电磁干扰的测试方法。 一种电波暗室,包括一...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。