电波暗室及电磁干扰的测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种电波暗室及使用该电波暗室测试电磁干扰的测试方法。
【背景技术】
[0002] 手机、电脑等电子产品在开发过程中均需要利用电波暗室进行电磁场辐射抗扰度 试验。常用的电波暗室会分别使用高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直 天线进行测试，需要人工在各类天线之间更换，因此增加了设备、人力、时间，造成测试成本 高，且测试效率低。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，有必要提供一种测试效率高，测试成本低的电波暗室及使用该电波暗 室测试电磁干扰的测试方法。
[0004] 一种电波暗室，包括一暗室、一设于该暗室内用来承载一待测物的转台、一高频水 平天线、一高频垂直天线、一低频水平天线、一低频垂直天线、四个单向滤波器、四个继电 器、一合路器及一接收器，该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线 设置于该转台的四周并分别电性连接于该四个单向滤波器，每一继电器包括一连接于该合 路器的第一端及一连接对应单向滤波器的第二端，该合路器的输出端连接该接收器，该合 路器将这些单向滤波器传输来的信号合成一合成信号后传输给接收器来判断该待测物是 否合格并显示出测试结果。
[0005] -种电磁干扰的测试方法，包括如下步骤： 提供一电波暗室，该电波暗室内设置一转台及放置于暗室内且位于该转台的四周的高 频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线； 将一待测物放置于该转台上，并开启该待测物； 该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线同时接收该待测物的 电磁场信号； 该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线将接收到的电磁场信 号分别通过一单向滤波器传输给一合路器； 该合路器将信号进行合成一合路信号后传输给一接收器来判断该待测物是否合格并 显示出测试结果。
[0006] 所述电波暗室能同时使用高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂 直天线对待测物进行高频及低频的电磁干扰测试，从而提高了测试效率，降低了测试成本。
【附图说明】
[0007] 图1为本发明较佳实施例的电波暗室的示意图。
[0008] 图2为本发明较佳实施例的电波暗室的方框图。
[0009] 图3及图4为本发明较佳实施例电波暗室进行电磁干扰的测试方法的流程图。
[0010] 主要元件符号说明
【主权项】
1. 一种电波暗室，包括一暗室、一设于该暗室内用来承载一待测物的转台、一高频水平 天线、一高频垂直天线、一低频水平天线、一低频垂直天线、四个单向滤波器、四个继电器、 一合路器及一接收器，该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线设置 于该转台的四周并分别电性连接于该四个单向滤波器，每一继电器包括一连接于该合路器 的第一端及一连接对应单向滤波器的第二端，该合路器的输出端连接该接收器，该合路器 将这些单向滤波器传输来的信号合成一合成信号后传输给接收器来判断该待测物是否合 格并显示出测试结果。
2. 如权利要求1所述的电波暗室，其特征在于：该电波暗室还包括四个负载，每一继电 器包括一连接一个负载的第三端。
3. 如权利要求2所述的电波暗室，其特征在于：每一负载的电阻值与对应的单向滤波 器的电阻值相同。
4. 如权利要求1所述的电波暗室，其特征在于：该合路器与该接收器之间设有一放大 器。
5. -种电磁干扰的测试方法，包括如下步骤： 提供一电波暗室，该电波暗室内设置一转台及放置于暗室内且位于该转台的四周的高 频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线； 将一待测物放置于该转台上，并开启该待测物； 该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线同时接收该待测物的 电磁场信号； 该高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线将接收到的电磁场信 号分别通过一单向滤波器传输给一合路器； 该合路器将信号进行合成一合路信号后传输给一接收器来判断该待测物是否合格并 显示出测试结果。
6. 如权利要求5所述的测试方法，其特征在于：当合成信号的高频段量及低频段量均 低于限制值，则待测物合格；否则待测物不合格。
7. 如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：当合成信号的高频段量高于限制值时， 关闭与该低频水平天线、低频垂直天线及高频垂直天线连接的继电器，仅使高频水平天线 接收待测物的电磁场信号，能判断高频段量的水平方向的频率是否高于限制值。
8. 如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：当合成信号的高频段量高于限制值，关 闭与该低频水平天线、低频垂直天线及高频水平天线连接的继电器，仅使高频垂直天线接 收待测物的电磁场信号，能判断高频段量的垂直方向的频率否高于限制值。
9. 如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：当合成信号的低频段量高于限制值时， 关闭与该高频水平天线、高频垂直天线及低频垂直天线连接的继电器，仅使低频水平天线 接收待测物的电磁场信号，能判断低频段量的水平方向的频率是否高于限制值。
10. 如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：当合成信号的低频段量高于限制值 时，关闭与该高频水平天线、高频垂直天线及低频水平天线连接的继电器，仅使低频垂直天 线接收待测物的电磁场信号，能判断低频段量的垂直方向的频率否高于限制值。
【专利摘要】一种电波暗室，包括一暗室、一设于暗室内用来承载一待测物的转台、一高频水平天线、一高频垂直天线、一低频水平天线、一低频垂直天线、四个单向滤波器、四个继电器、一合路器及一接收器，高频水平天线、高频垂直天线、低频水平天线及低频垂直天线设置于转台的四周并分别电性连接于四个单向滤波器，每一继电器包括一连接于合路器的第一端及一连接对应单向滤波器的第二端，合路器的输出端连接接收器，合路器将这些单向滤波器传输来的信号合成一合成信号后传输给接收器来判断待测物是否合格并显示出测试结果，提高了测试效率，降低了测试成本。本发明涉及一种使用该电波暗室测试电磁干扰的测试方法。
【IPC分类】G01R31-00
【公开号】CN104655949
【申请号】CN201310588971
【发明人】何等乾
【申请人】鸿富锦精密电子(天津)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2013年11月21日
【公告号】US20150137829