一种检测电子整流器的焊接缺陷方法
【技术领域】
[0001]本发明属于电子整流器的测试领域，尤其涉及一种检测电子整流器的焊接缺陷方法。
【背景技术】
[0002]电子镇流器在灯具行业已经广泛应用，尤其是LED灯具，其作为重要的电子部件，在灯具设备中具有关键性作用。
[0003]由于受工作环境、使用习惯等因素影响，在经过长期使用后，电子镇流器可能出现基板变形，导致其包含的部分零部件出现脱焊或者焊接点开裂异常；或者由于其包含的电子元器件存在焊接缺陷而减短寿命周期，短时间内出现损坏异常；从而最终导致电子镇流器无法正常工作。
[0004]在焊接阶段，如何将电子镇流器可能潜在的焊接缺陷以及零部件使用寿命短的缺陷暴露出来，并对焊接进行有效纠正，成了提高电子镇流器可靠性的重要组成部分。目前针对电子镇流器缺陷，仅通过常规的外观检测、电性检测，只能找出已经存在焊接缺陷；而针对长期使用后可能暴漏的焊接缺陷，却无能为力。
【发明内容】
[0005]本发明实施例的目的在于提供一种检测电子整流器的焊接缺陷方法，旨在解决针对电子整流器，现有技术无法检测出长期使用后可能暴漏的焊接缺陷的问题。
[0006]一方面，一种检测电子整流器的焊接缺陷方法，所述检测电子整流器的焊接缺陷方法包括:
[0007]将处于工作状态的电子整流器置于恒温恒压箱内，为所述高温老化测试设置第一测试条件，对所述电子整流器进行高温老化测试，以检测所述电子整流器是否具有焊接缺陷，所述第一测试条件包括:温度以及测试时间；
[0008]将电子镇流器固定在振动测试平台上，为所述震动测试设置第二测试条件，对所述电子整流器进行震动测试，以检测所述电子整流器是否具有焊接缺陷，所述第二测试条件包括:加速度、振动频率以及振动测试时间。
[0009]本发明的有益效果是:对所述电子整流器进行高温老化测试，以暴露出电子镇流器在经过长期使用后可能产生的焊接缺陷；另外，可以进一步对所述电子整流器进行震动测试，以进一步暴露出电子镇流器在经过长期使用后可能产生的焊接缺陷；筛选掉已暴漏焊接缺陷的电子镇流器电源，保留不存在焊接缺陷的电子镇流器电源，保证经过检测后的电子镇流器，能够维持长期的正常工作。
【附图说明】
[0010]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1是本发明实施例提供的第一种检测电子整流器的焊接缺陷方法的实现流程图；
[0012]图2是本发明实施例提供的第二种检测电子整流器的焊接缺陷方法的实现流程图；
[0013]图3是本发明实施例提供的第三种检测电子整流器的焊接缺陷方法的实现流程图；
[0014]图4是本发明实施例提供的第四种检测电子整流器的焊接缺陷方法的实现流程图。
【具体实施方式】
[0015]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0016]为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
[0017]在本发明实施例中，该检测电子整流器的焊接缺陷方法可以适用于抽样检测。若是针对海量的电子整流器进行抽样检测，则在使用本发明实施例提供的检测电子整流器的焊接缺陷方法之前，从海量的电子整流器中抽取出部分数量的电子整流器。
[0018]下面结合优选实施方式，对本发明实施例提供的电子整流器的检测方法详细说明。图1示出了本实施例提供的第一种检测电子整流器的焊接缺陷方法的实现流程，为了便于描述，仅示出了与本发明实施例相关的部分，其实现流程详述如下:
[0019]一种检测电子整流器的焊接缺陷方法，所述检测电子整流器的焊接缺陷方法包括:
[0020]步骤S11，将处于工作状态的电子整流器置于恒温恒压箱内，为所述高温老化测试设置第一测试条件，对所述电子整流器进行高温老化测试，以检测所述电子整流器是否具有焊接缺陷，所述第一测试条件包括:温度以及测试时间；
[0021]步骤S12，将电子镇流器固定在振动测试平台上，为所述震动测试设置第二测试条件，对所述电子整流器进行震动测试，以检测所述电子整流器是否具有焊接缺陷，所述第二测试条件包括:加速度、振动频率以及振动测试时间。
[0022]值得说明的是，在检测所述电子整流器是否具有焊接缺陷之前，可以仅执行步骤S11，对所述电子整流器进行高温老化测试；或者，仅执行步骤S12，对所述电子整流器进行震动测试；或者，不分先后顺序地执行步骤Sll和步骤S12。在本实施例中，仅针对先执行步骤Sll (对所述电子整流器进行高温老化测试)，后执行步骤S12的情况(对所述电子整流器进行震动测试)，进行说明。
[0023]需要说明的是，用于所述高温老化测试的第一测试条件至少包括:温度以及测试时间；所述第一测试条件用于加速电子镇流器老化。
[0024]其中，所述第一测试条件包括的温度，根据实际使用电子镇流器的环境温度而预先设定。
[0025]在本实施例中，预先针对电子镇流器焊接质量，以及针对其包含的零部件在高温环境下的适应性和耐久性等工作情况，对所述电子整流器进行高温老化测试，进而检测经过高温老化测试后的电子整流器是否存在焊接缺陷。
[0026]本实施例的其中一实施方式为:将电子镇流器放置于恒温恒湿箱内，并为该电子镇流器接上负载和电源，以让该电子镇流器处于工作状态；然后，将用于高温老化测试的第一测试条件设置为:温度为70°C，测试时间为240小时；接着，开启机台对该电子镇流器进行高温老化测试。
[0027]需要说明的是，用于所述高温老化测试的第二测试条件至少包括:速度、振动频率以及振动测试时间；所述第二测试条件用于检测电子镇流器的抗振性能；所述第二测试条件包括的加速度和振动频率(略低于最坏情况时的加速度和振动频率)，均根据实际使用的最坏情况而设定。另外，所述第二测试条件包括的振动测试时间，根据测试需要而定。
[0028]进而，通过电子镇流器的安装孔位，将电子镇流器固定(例如:采用螺钉)在振动测试平台上，为所述震动测试设置第二测试条件。进而，对电子镇流器进行振动测试，确认电子镇流器抗振动性能，以进一步确定经过振动测试后的电子镇流器是否存在焊接缺陷。
[0029]优选的是，所述第二测试条件包括的加速度为2.0G,所述第二测试条件包括的振动频率为100HZ。
[0030]优选的是，所述对所述电子整流器进行高温老化测试的步骤，还包括:
[0031]每隔第一预设时间，对所述电子整流器进行外观检测和/或电性检测，以检测所述电子整流器是否具有焊接缺陷。
[0032]需要说明的是，所述第一预设时间为:根据测试需要，而在进行高温老化测试前预先设定。例如:所述第一预设时间为一天。
[0033]需要说明的是，所述外观检测为:根据肉眼，直接观察所述电子整流器是否存储焊接缺陷。所述电性检测为:通过仪器检查电子镇流器的内部电路的导通性，以及基板线路的绝缘性。
[0034]在本实施例中，在高温老化测试过程中，为了加快对电子整流器是否具有焊接缺陷的检测进度；每隔第一预设时间，对所述电子整流器进行外观检测和/或电性检测，筛除掉暴露出焊接缺陷的电子整流器。
[0035]优选的是，所述对所述电子整流器进行震动测试的步骤之前，所述检测电子整流器的焊接缺陷方法还包括:
[0036]为所述震动测试设置第三测试条件，所述第三测试条件包括:至少一个振动轴向。
[0037]在本实施例中，在设定第三测试条件时，具体在设定对哪些振动轴向进行检测时，根据检测需要而定。
[0038]本实施例的其中一实施方式为:通过电子镇流器的安装孔位，采用螺钉将电子镇流器固定在振动测试平台；然后，设置第二测试条件为:2.0G(加速度)/10Hz (振动频率)，并设定振动测试时间的时长为60分钟；选定一个振动轴向(第三测试条件)；然后，开启振动测试平台，对所述电子整流器对该振动轴向进行振动测试。
[0039]优选的是，所述第三测试条件为:三个相互垂直的所述振动轴向。
[0040]具体地，为了对该电子镇流器的各个轴向均实现检测，选择三个相互垂直的所述振动轴向作为第三测试条件。由于每个轴向在三个相互垂直的所述振动轴向均存在分量，从而，仅针对三个相互垂直的所述振动轴向进行振动测试，即可实现对每个轴向进行振动测试的效果。
[0041]作为本发明一实施例，图2示出了本实施例