显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备的制造方法

文档序号:9505056阅读:588来源:国知局
显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备。
【背景技术】
[0002]液晶显示屏(英文:Liquid Crystal Display ;缩写:LCD)在各类电子设备中得到了广泛应用,几乎已成为一款电子设备的标配。
[0003]在大批量生产IXD的过程中,不可避免地会出现一定数量的存在显示缺陷的产品,例如像素暗点、像素壳点或者因像素中参杂杂质而导致的显不缺陷等。因此,对LCD进行显示缺陷检测是电子设备出厂前的必经环节。在相关的检测技术中,通过控制被测LCD处于点亮状态,并从该被测LCD的正面(即被测LCD的用于显示图像的一面)拍摄得到该被测LCD的图像,然后通过对该图像进行识别和处理,确定该被测LCD是否存在显示缺陷。然而,当被测LCD的正面贴附有诸如灰尘、指纹之类的外部脏污时,会造成误检测的情况发生,将本没有显示缺陷的LCD误检测为存在显示缺陷。在现有技术中,为了减少误检测的情况发生,在图像拍摄操作之前添加专门的除污环节,由技术人员或专业设备对被测LCD进行擦拭除污。
[0004]然而,上述现有技术至少存在如下问题:通过添加专门的除污环节以降低误检测概率,这无疑会降低检测速度,影响检测效率。

【发明内容】

[0005]为了解决现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率,导致检测速度降低,影响检测效率的问题,本发明实施例提供了一种显示屏的显示缺陷检测方法、装置及设备。所述技术方案如下:
[0006]第一方面,提供了一种显示屏的显示缺陷检测方法,该方法包括:获取被测显示屏的正面的第一图像,该第一图像是被测显示屏处于纯色显示状态的情况下拍摄的,被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面;在第一图像中识别疑似缺陷像素,疑似缺陷像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第一数值区间的像素,该第一数值区间是指疑似缺陷像素的像素特征对应的取值范围;获取被测显示屏的正面的第二图像,该第二图像是被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下拍摄的;在第二图像中识别外部脏污像素,外部脏污像素是被测显示屏的显示屏区域中像素特征属于第二数值区间的像素,该第二数值区间是指外部脏污像素的像素特征对应的取值范围;对于第一图像中识别出的每一个疑似缺陷像素,检测第二图像的相同位置处是否为外部脏污像素;若第二图像的相同位置处不是外部脏污像素,则将疑似缺陷像素确定为显示缺陷像素。
[0007]通过在第一图像中识别疑似缺陷像素,在第二图像中识别外部脏污像素,进而依据疑似缺陷像素在第一图像中的位置和外部脏污像素在第二图像中的位置,判别疑似缺陷像素是否为显示缺陷像素;解决了现有技术通过添加专门的除污环节以降低误检测概率,导致检测速度降低,影响检测效率的问题;实现了自动化地将真正的显示缺陷和外部脏污进行辨别区分,既可避免因脏污而导致误检测的情况发生,且相比于现有技术检测速度和检测效率显著提高。
[0008]基于第一方面提供的技术方案,在一种可能的实施方式中,在第一图像中识别疑似缺陷像素,包括:分别获取第一图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征,该像素特征包括亮度值和/或对比度;检测被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素;若被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第一数值区间的第一候选像素,则检测是否存在由连续排列的第一候选像素所形成的第一候选像素块且第一候选像素块中的像素个数大于第一预设阈值;若存在第一候选像素块,则将第一候选像素块中的各个第一候选像素识别为疑似缺陷像素。
[0009]通过上述方式,将一个满足上述条件的第一候选像素块识别为一处疑似缺陷,一方面目的是将微小的、对实际使用基本无影响的显示缺陷过滤掉,另一方面也可排除第一图像中噪声点对识别结果的干扰,再一方面还可减少后续的计算处理量。
[0010]类似地,基于第一方面提供的技术方案,在一种可能的实施方式中,在第二图像中识别外部脏污像素,包括:分别获取第二图像中被测显示屏的显示屏区域中的每一个像素的像素特征,该像素特征包括亮度值和/或对比度;检测被测显示屏的显示屏区域中是否存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素;若被测显示屏的显示屏区域中存在像素特征属于第二数值区间的第二候选像素,则检测是否存在由连续排列的第二候选像素所形成的第二候选像素块且第二候选像素块中的像素个数大于第二预设阈值;若存在第二候选像素块,则将第二候选像素块中的各个第二候选像素识别为外部脏污像素。
[0011]通过上述方式,将一个满足上述条件的第二候选像素块识别为一处外部脏污,可以排除第二图像中噪声点对识别结果的干扰。
[0012]第二方面,提供了一种显示屏的显示缺陷检测装置,该装置所包括的功能模块,用于实现上述第一方面提供的显示屏的显示缺陷检测方法。
[0013]第三方面,提供了一种电子设备,该电子设备包括如第二方面提供的显示屏的显示缺陷检测装置。
[0014]第四方面,提供了一种电子设备,该电子设备包括:处理器和存储器,存储器用于存储一个或者一个以上的指令,该指令被配置成由处理器执行,该指令用于实现上述第一方面提供的显示屏的显示缺陷检测方法。
[0015]第五方面,提供了一种显示屏的显示缺陷检测设备,该设备包括:支架,以及分别与支架相连的显示屏固定组件、漫反射光源组件和图像采集组件。其中,显示屏固定组件用于固定被测显示屏;漫反射光源组件用于提供漫反射光源;图像采集组件用于在被测显示屏处于纯色显示状态的情况下,从被测显示屏的正面拍摄得到第一图像;图像采集组件还用于在被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下,从被测显示屏的正面拍摄得到第二图像。被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。
[0016]通过在设备中添加漫反射光源组件,由该漫反射光源组件提供的漫反射光源照射处于熄灭状态的被测显示屏,从而拍摄记录有外部脏污的第二图像,为自动化地辨别区分真正的显示缺陷和外部脏污提供了实现保障。
[0017]基于第五方面提供的技术方案,在第五方面的第一种可能的实施方式中,漫反射光源组件包括:壳体;设置于壳体内的发光元件,该发光元件用于提供漫反射光源;设置于壳体表面的散热孔;以及,设置于漫反射光源发出的入射光线周侧的遮光盖。
[0018]通过散热孔所起到的散热作用,避免壳体内部温度过高,从而避免发光元件过热或者损坏;通过遮光盖汇聚发光元件发出的光线,有助于提高脏污检测效果。
[0019]基于第五方面提供的技术方案,在第五方面的第二种可能的实施方式中,该设备还包括光源连接组件。光源连接组件用于将漫反射光源组件与支架活动连接。
[0020]通过将漫反射光源组件与支架之间设置为活动连接结构,从而通过调节发光元件的位置和/或角度,调整漫反射光源发出的入射光线的入射角。
[0021]基于第五方面提供的技术方案,在第五方面的第三种可能的实施方式中,该设备还包括处理组件。处理组件包括如第二方面提供的显示屏的显示缺陷检测装置。
[0022]另外,结合上述任一方面提供的技术方案,在一种可能的实施方式中,漫反射光源发出的入射光线的入射角大于等于35°且小于等于55°。
[0023]通过控制漫反射光源发出的入射光线的入射角在35°至55°之间,避免因图像过暗或者过亮导致掩盖掉部分脏污,提高脏污检测效果。优选地,在漫反射光源发出的入射光线的入射角等于45°的情况下,脏污检测效果最佳。
【附图说明】
[0024]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1A是本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测设备的结构方框图;
[0026]图1B是图1A所示实施例中漫反射光源组件的结构示意图;
[0027]图2是本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测方法的流程图;
[0028]图3A是本发明另一实施例提供的显示屏的显示缺陷检测方法的流程图;
[0029]图3B是图3A所示实施例中涉及的第一图像的示意图;
[0030]图3C是图3A所示实施例中涉及的第二图像的示意图;
[0031]图4是本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置的结构方框图;
[0032]图5是本发明另一实施例提供的显示屏的显示缺陷检测装置的结构方框图;
[0033]图6是本发明一个实施例提供的电子设备的结构方框图。
【具体实施方式】
[0034]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
[0035]请参考图1A,其示出了本发明一个实施例提供的显示屏的显示缺陷检测设备的结构方框图。该显示缺陷检测设备10包括:支架11,以及分别与支架11相连的显示屏固定组件12、漫反射光源组件13和图像采集组件14。
[0036]显示屏固定组件12,用于固定被测显示屏。漫反射光源组件13,用于提供漫反射光源。图像采集组件14,用于在被测显示屏处于纯色显示状态的情况下,从被测显示屏的正面拍摄得到第一图像。其中,被测显示屏的正面是指被测显示屏的用于显示图像的一面。纯色显示状态可以是点亮且未显示任何图像的状态,此时被测显示屏呈亮白色;或者,纯色显示状态也可以是点亮且显示有纯色图像的状态,纯色图像可以是纯白色图像、纯黑色图像或者其它单一颜色图像。图像采集组件14,还用于在被测显示屏处于熄灭状态且被漫反射光源向被测显示屏的正面照射的情况下,从被测显示屏的正面拍摄得到第二图像。
[0037]本实施例提供的显示缺陷检测设备10,可用于对IXD的显示缺陷进行检测。该显示缺陷包括但不限于像素暗点、像素亮点或者因像素中参杂杂质而导致的显示缺陷等。另夕卜,被测显示屏可以是已安装于电子设备之上的显示屏,也可以是未安装于电子设备之上的显示屏。在被测LCD为已安装于电子设备之上的显示屏的情况下,由电子设备提供背光源,控制该被测LCD处于点亮状态或者熄灭状态。在被测LCD为未安装于电子设备之上的显示屏的情况下,该显示缺陷检测设备10还包括用于向被测显示屏提供背光源的背光源组件,通过该背光源组件控制被测
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