一种分析光纤缺陷的装置制造方法

文档序号:6060194阅读:139来源:国知局
一种分析光纤缺陷的装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种分析光纤缺陷的装置,属于光纤生产质量控制【技术领域】。它由装置主体、密封上盖、上透明玻璃片、下透明玻璃片、细圆管和匹配油构成,装置主体的底部外圈上制作有外围凹槽,底部固装有下透明玻璃片,顶部装有带上透明玻璃片的密封上盖;装置主体的桶壁中部两侧对称安装有两根细圆管,桶壁内装有匹配油。本实用新型采用将光纤样品从细圆管中穿过装有匹配油的圆桶容器中方法,观测分析时光纤可360°任意调节,并可在细圆管中来回拉动,分析方法简单易掌握,操作方便,大大节省了匹配油的消耗。解决了现有将光纤样品直接放在显微镜下进行分析的方法呈现出来的图象不够清楚,分析不准确,不能够长段光纤连续分析的问题。
【专利说明】一种分析光纤缺陷的装置

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种分析光纤缺陷的装置,属于光纤生产质量控制【技术领域】。

【背景技术】
[0002]光纤制造对工艺环境要求特别高,生产过程中会出现光纤表面、内部存在缺陷的问题,因此对光纤存在结构缺陷的控制工作尤为重要,为了及时分析和解决问题,有效的控制光纤生产过程中的质量,提高光纤产品的合格率,目前通常的方法是将有缺陷问题光纤的样品直接在显微镜下进行分析,但此方法呈现出来的图象不够清楚,很难作出准确的分析,而且也只能是对光纤某一点或局部进行分析,而不能够长段光纤连续分析。


【发明内容】

[0003]本实用新型的目的在于,提供一种将光纤样品从细圆管中穿过装有相对折射率n=l.5840的匹配油圆桶容器中,观测分析时光纤可以360°任意调节,并可在细圆管中来回拉动,分析准确,操作简单的分析光纤缺陷的装置,
[0004]本实用新型是通过如下的技术方案来实现上述目的的:
[0005]该分析光纤缺陷的装置由装置主体、密封上盖、上透明玻璃片、下透明玻璃片、细圆管和匹配油构成,其特征在于:装置主体为一圆桶结构,装置主体的底部外圈上制作有外围凹槽,装置主体的底部上开制有透光的通孔,透光的通孔上面固装有下透明玻璃片;装置主体的顶部安装有密封上盖,密封上盖的中部制作成通孔,通孔上面固装有上透明玻璃片;装置主体的桶壁中部两侧对称安装有两根细圆管,细圆管的一截置于桶壁外面,一截穿过桶壁置于桶壁的里面;装置主体的桶壁内装有匹配油。
[0006]本实用新型与现有技术相比的有益效果在于:
[0007]该分析光纤缺陷的装置采用将光纤样品从细圆管中穿过装有相对折射率n=l.5840的匹配油圆桶容器中方法,观测分析时光纤可以360°任意调节,并可在细圆管中来回拉动;圆桶上下两端为透明玻璃片,透光性能好,方便在显微镜下对光纤进行观测分析,能够更加准确的分析光纤存在的各种缺陷,而且分析方法简单易掌握,操作方便,装置的主体材料采用铝合金,制作成本低,清洁方便,大大节省了匹配油的消耗。解决了现有将光纤样品直接放在显微镜下进行分析的方法呈现出来的图象不够清楚,分析不准确,且只能对光纤某一点或局部进行分析,不能够长段光纤连续分析的问题。

【专利附图】

【附图说明】
[0008]图1为一种分析光纤缺陷的装置的主视结构示意图;
[0009]图2为一种分析光纤缺陷的装置的剖视结构示意图。
[0010]图中:1、装置主体,2、密封上盖,3、上透明玻璃片,4、下透明玻璃片,5、细圆管,6、外围凹槽,7、匹配油,8、待测光纤。

【具体实施方式】
[0011]该分析光纤缺陷的装置由装置主体1、密封上盖2、上透明玻璃片3、下透明玻璃片
4、细圆管5和匹配油7构成,装置主体I为一圆桶结构,装置主体I的底部外圈上制作有外围凹槽6,用来回收细圆管5和装置主体I的圆桶上端溢出的匹配油7,大大的节省了匹配油7的消耗,同时也不污染显微镜的操作平台和镜头。装置主体I的底部上开制有透光的通孔,透光的通孔上面固装有下透明玻璃片4。装置主体I的顶部安装有密封上盖2,密封上盖2的中部制作成通孔,通孔上面固装有上透明玻璃片3。装置主体I的桶壁中部两侧对称安装有两根细圆管5,细圆管5的一截置于桶壁外面,一截穿过桶壁置于桶壁的里面;装置主体I的桶壁内装有匹配油7,匹配油7的相对折射率n=l.5840。
[0012]该分析光纤缺陷的装置使用步骤为:
[0013]1、分析前将待测光纤8的表面清洗干净,并将待测光纤8从两根细圆管5中穿过。
[0014]2、向装置主体I的圆桶中添加相对折射率n=l.5840的匹配油7,匹配油7的液面高度要高于细圆管的高度20mm?40mm,使待测光纤8完全浸泡在匹配油中。
[0015]3、盖上装有上透明玻璃片3的密封上盖2,要求将上透明玻璃片3和下透明玻璃片4清洁干净无杂质。
[0016]4、再将装有一定折射率匹配油的光纤缺陷分析装置放在显微镜的载物台中心,调整显微镜载物台使显微镜上下光源发出的光穿透光纤缺陷分析装置,对待测光纤8进行观测。观测待测光纤8缺陷的过程中,可以转动待测光纤8,也可以在细圆管5中来回移动待测光纤8,以取得最好的观测分析效果。该分析光纤缺陷的装置放在显微镜下观测时,细圆管5中可供观测的待测光纤8长度大约在30cm左右。
[0017]5、观测完成后,把待测光纤8抽出即可,装置主体I的圆桶中的昂贵的匹配油7不需要倒回原瓶,分析装置的密封上盖2盖好后匹配油7不会流出,也不会被污染,下次使用时很方便的直接将待测光纤8插入两根细圆,5中进行观察。
[0018]以上所述只是本实用新型的较佳实施例而已,上述举例说明不对本实用新型的实质内容作任何形式上的限制,所属【技术领域】的普通技术人员在阅读了本说明书后依据本实用新型的技术实质对以上【具体实施方式】所作的任何简单修改或变形,以及可能利用上述揭示的技术内容加以变更或修饰为等同变化的等效实施例,均仍属于本实用新型技术方案的范围内,而不背离本实用新型的实质和范围。
【权利要求】
1.一种分析光纤缺陷的装置,它由装置主体(I)、密封上盖(2)、上透明玻璃片(3)、下透明玻璃片(4)、细圆管(5)和匹配油(7)构成,其特征在于:装置主体(I)为一圆桶结构,装置主体(I)的底部外圈上制作有外围凹槽(6),装置主体(I)的底部上开制有透光的通孔,透光的通孔上面固装有下透明玻璃片(4);装置主体(I)的顶部安装有密封上盖(2),密封上盖(2)的中部制作有通孔,通孔上面固装有上透明玻璃片(3);装置主体(I)的桶壁中部两侧对称安装有两根细圆管(5),细圆管(5)的一截置于桶壁外面,一截穿过桶壁置于桶壁的里面;装置主体(I)的桶壁内装有匹配油(7)。
【文档编号】G01N21/95GK203929671SQ201420332463
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2014年6月22日 优先权日:2014年6月22日
【发明者】韩向荣, 孙贵廷, 尚赢, 曲风西, 王纪肖, 王凯 申请人:湖北凯乐光电有限公司
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