技术编号:8342473
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体集成电路制造领域,特别是涉及一种ADC的自适应滤波数 字校准电路;本发明还涉及一种ADC的自适应滤波数字校准方法。背景技术ADC主要的误差来源包括比较器偏移(Offset),电容失配(Mismatch),增益误差(Gainerror)等,其中制造带来的DAC电容失配,是不可能避免的,由其引起的ADC输出特 性曲线非线性变化,对ADC的性能影响最大。传统的模拟改善方式有采用大电容单元,但带 来面积,功耗的开销。或是采用小电容阵列来代替大电...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。