技术编号:8394873
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。专利说明(—) 本发明涉及光谱分析仪,具体涉及一种自校准分析仪的设计方法及装置。(二)背景技术 基于吸收光谱技术的分析仪器通过对目标分析物某个特定波段的光吸收测量实现。吸收光谱的频率和谱型由参与跃迀的初末振转能级状态决定。基于半导体激光器的吸收光谱具有高灵敏性、快速测量等技术优越性,常被用于ppm甚至ppb量级痕量杂质的检测。在这些应用中,背景气体在体积和质量上都占绝大多数。当背景气体的温度、压强变化时,激发态分子(或原子)的寿命和中心频率都会变化,从...
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