在用于半导体测试的本地每引脚测试仪的自动测试设备上伪每站测试仪功能的制作方法技术资料下载

技术编号:8460618

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本发明的实施例一般地涉及用于测试电子组件的自动测试设备(ATE)。背景技术自动测试设备(ATE)通常在电芯片制造领域中用于测试电子组件。ATE系统既降低了在对器件进行测试以保证器件功能与设计一样上面花费的时间量,又用作在给定器件到达消费者手中之前确定该器件中存在故障组件的诊断工具。目前存在两种类型的系统用于测试片上系统半导体器件每站测试仪(Tester-Per-Site,TPS)和每引脚测试仪(Tester-Per-Pin,TPP)。TPS 系统将在可被称...
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