技术编号：8472002
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。集成电路(Integrated Circuit, IC)芯片的半导体测试,在半导体制造工艺的不同阶段都是必要的。每一个IC芯片在晶片与封装型态都必须接受测试以确保其电性功能。测试产品的需求来自以下两个因素芯片的新设计与单位产量的提高。随着芯片功能的加强与复杂化，高速与精确的测试需求也就更加重要。一般在IC芯片的制造过程中，皆会将特定的测试程序载入至测试机台，以通过测试机台对芯片进行基本的测试动作，以确定芯片是否可正常运作。然由于IC芯片的功能越来越强大、结...
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