技术编号:8513377
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。半导体存储装置可以包括错误检查功能和数据总线反相(DBI,data businvers1n)功能,以改善数据传输的可靠性和效率。错误检查功能可以指用于确定在传输数据期间是否已发生错误并将已发生错误的数据进行恢复的一种功能。数据总线反相(DBI)的功能可以指如下功能根据被同时写入存储器单元中的数据或自所述存储器单元同时读取的数据的电平,当特定电平(例如高电压逻辑电平)的数据较多时,数据按实际被输入或输出,而当其他电平(例如低电压逻辑电平)的数据较多时,数据通...
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