技术编号：8666074
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前，在电容屏制作细线工艺时，在激光蚀刻银线后通过都是用万用表测试每一个拼与拼之间是否开短路；但采用上述测试方法不仅测试速度慢，而且测试不准确，从而减少了测试频率，降低了生产良率。实用新型内容本实用新型的目的是提供一种测试速度快，测试准确，能够有效增加测试频率，以及提高生产良率的用于激光蚀刻后的电容屏测试治具。为了解决背景技术所存在的问题，本实用新型是采用以下技术方案用于激光蚀刻后的电容屏测试治具，包括治具本体，所述治具本体与一手柄垂直连接，所述治具本体上...
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